科技之光,研發(fā)未來(lái)-特殊染色技術(shù)服務(wù)檢測(cè)中心
常規(guī)HE染色技術(shù)服務(wù)檢測(cè)中心:專業(yè)、高效-生物醫(yī)學(xué)
科研的基石與質(zhì)量的保障-動(dòng)物模型復(fù)制實(shí)驗(yàn)服務(wù)檢測(cè)中心
科技之光照亮生命奧秘-細(xì)胞熒光顯微鏡檢測(cè)服務(wù)檢測(cè)中心
揭秘微觀世界的窗口-細(xì)胞電鏡檢測(cè)服務(wù)檢測(cè)中心
科研的基石與創(chuàng)新的搖籃-細(xì)胞分子生物學(xué)實(shí)驗(yàn)服務(wù)檢測(cè)中心
科研的堅(jiān)實(shí)后盾-大小動(dòng)物學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)服務(wù)檢測(cè)中心
推動(dòng)生命科學(xué)進(jìn)步的基石-細(xì)胞生物學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)服務(wù)
科技前沿的守護(hù)者-細(xì)胞藥效學(xué)實(shí)驗(yàn)服務(wù)檢測(cè)中心
科研前沿的探索者-細(xì)胞遷移與侵襲實(shí)驗(yàn)服務(wù)檢測(cè)中心
探針卡常見(jiàn)故障分析及維護(hù)方法:芯片測(cè)試是IC制造業(yè)里不可缺少的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。芯片測(cè)試是為了檢驗(yàn)規(guī)格的一致性而在硅片集成電路上進(jìn)行的電學(xué)參數(shù)測(cè)量。硅片測(cè)試的目的是檢驗(yàn)可接受的電學(xué)性能。測(cè)試過(guò)程中使用的電學(xué)規(guī)格隨測(cè)試的目的而有所不同。如果發(fā)現(xiàn)缺陷,產(chǎn)品小組將用測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)確保有缺陷的芯片不會(huì)被送到客戶手里,并通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)反饋,讓設(shè)計(jì)芯片的工程師能及時(shí)發(fā)現(xiàn)并糾正制作過(guò)程中的問(wèn)題。通常用戶得到電路,直接安裝在印刷電路板(PCB)上,PCB生產(chǎn)完畢后,直接對(duì)PCB進(jìn)行測(cè)試。這時(shí)如果發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,就需要復(fù)雜的診斷過(guò)程和人工分析,才能找到問(wèn)題的原因。探針材質(zhì)、探針直徑、光束長(zhǎng)度、和尖錐長(zhǎng)度都在決定頂端壓力時(shí)起重要的作用。河北控溫探針臺(tái)要多少錢(qián)
射頻測(cè)試探針必須具有與測(cè)試點(diǎn)相匹配的阻抗。通常要做的是在設(shè)計(jì)中各個(gè)預(yù)先計(jì)劃好的測(cè)試點(diǎn)焊接射頻同軸電纜(尾纖)。這有助于確保足夠的阻抗匹配,并且測(cè)試點(diǎn)可以選在對(duì)整體設(shè)計(jì)性能產(chǎn)生較小影響的區(qū)域。其他方法包括將用的射頻探針焊接到自定義焊盤(pán)或者引線設(shè)計(jì)上,從而減少侵入性探測(cè)。高性能測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商可以提供高達(dá)毫米波頻率的用探針。但這些探針的末端通常都很昂貴,且無(wú)法持續(xù)訪問(wèn)組成元件的電路。因此,它們?cè)诖笕萘康臏y(cè)試應(yīng)用或者故障排除應(yīng)用中受到限制,更適合于原型設(shè)計(jì)和研發(fā)。河北控溫探針臺(tái)要多少錢(qián)測(cè)試完成后,探針卡于芯片分離,如果芯片不合格,則會(huì)在其**做上標(biāo)記。
針尖異常(開(kāi)裂,折斷,彎曲,破損):操作過(guò)程中,由于操作工操作不當(dāng)造成.1.針尖沒(méi)有裝好保護(hù)蓋而針尖朝下直接放到設(shè)備上.2.取卡時(shí)針尖不小心碰撞.3.用細(xì)砂子打磨針尖時(shí)用力太猛使針尖彎曲.4.上高度時(shí)Z鍵打到快檔,承片臺(tái)上升過(guò)快,而撞到針尖.5.裝打點(diǎn)器時(shí)不小碰傷。6.調(diào)針時(shí)鑷子碰傷針尖等等,都要造成針尖開(kāi)裂,扎斷,彎曲,破損。這種情況一般馬上就能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,必須把它取下來(lái)反放到顯微鏡下修復(fù)針尖,恢復(fù)到原來(lái)位置,如確實(shí)調(diào)不好的針,應(yīng)到焊卡設(shè)備上重新?lián)Q針,而一般進(jìn)過(guò)修理過(guò)的探卡,使用時(shí)間會(huì)縮短且容易誤測(cè),所以對(duì)這種情況都應(yīng)嚴(yán)格禁止發(fā)生,平時(shí)對(duì)操作人員應(yīng)加強(qiáng)培訓(xùn),取針卡時(shí)應(yīng)裝好保護(hù)蓋,針尖不要碰到設(shè)備上,用細(xì)砂子砂針尖時(shí)應(yīng)輕輕打磨,上高度時(shí),把Z鍵打到慢檔,緩慢上升承片臺(tái),找準(zhǔn)接觸點(diǎn)。
晶圓探針測(cè)試臺(tái)是半導(dǎo)體工藝線上的中間測(cè)試設(shè)備,與測(cè)試儀連接后,能自動(dòng)完成對(duì)集成電路及各種晶體管芯電參數(shù)和功能的測(cè)試。隨著對(duì)高性能、多功能、高速度、低功耗、小型化、低價(jià)格的電子產(chǎn)品的需求日益增長(zhǎng),這就要求在一個(gè)芯片中集成更多的功能并進(jìn)一步縮小尺寸,從而大片徑和高效率測(cè)試將是今后晶圓探針測(cè)試臺(tái)發(fā)展的主要方向。因此,傳統(tǒng)的手動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)和半自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)已經(jīng)不能滿足要求,取而代之的是高速度,高精度,高自動(dòng)化,高可靠性的全自動(dòng)晶圓探針測(cè)試臺(tái)。典型的探針卡是一個(gè)帶有很多細(xì)針的印刷電路板。
電纜安裝探針既可以手動(dòng)使用,也可以與多軸探針定位器一起使用。與典型的探針臺(tái)不同,這些探針足夠大,操作員可以手動(dòng)使用,非??煽俊L结樁ㄎ黄鞯奈恢镁群涂芍貜?fù)性更高,而且本身可以放置,便于進(jìn)行測(cè)試。與探針臺(tái)不同,同軸電纜安裝探針和定位器可以在工程師或技術(shù)人員的典型測(cè)試臺(tái)上用作網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)發(fā)生器、頻譜分析儀、示波器和其他用于射頻/微波、毫米波和高速數(shù)字應(yīng)用的配件。電纜安裝射頻探針的占位面積小、無(wú)損壞,并且具有非侵入式設(shè)計(jì),可在高密度應(yīng)用中進(jìn)行測(cè)試,例如天線陣列、超材料、分形天線、微帶傳輸線、緊湊組件以及具有微小表面安裝包裝組件的印刷電路板。探針尖磨損和污染都會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。河北控溫探針臺(tái)要多少錢(qián)
如果是不合格的芯片,打點(diǎn)器立刻對(duì)這個(gè)不合格的芯片打點(diǎn)。河北控溫探針臺(tái)要多少錢(qián)
探針臺(tái)是半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝等行業(yè)的一種測(cè)試設(shè)備,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。探針臺(tái)是利用探針直接與測(cè)試對(duì)象的焊墊或凸塊等直接接觸,引出訊號(hào),達(dá)到測(cè)試的目的。探針臺(tái)普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。關(guān)于探針臺(tái)電學(xué)量測(cè)使用的探外地,測(cè)試針,是用于測(cè)試PCBA的一種探針,主要做為電學(xué)信號(hào)的輸入。河北控溫探針臺(tái)要多少錢(qián)