v我們以嵌入式微處理器S3C2440為中間, 加上測(cè)控節(jié)點(diǎn)和干擾源組成硬件系統(tǒng)。測(cè)控節(jié)點(diǎn)實(shí)時(shí)在線自動(dòng)完成電風(fēng)扇運(yùn)行過(guò)程時(shí)其控制電路板關(guān)鍵元件溫度和電壓信號(hào)的采集工作,將采集到的信號(hào)數(shù)字化處理后,經(jīng)過(guò)短暫存儲(chǔ)及初步處理,通過(guò)傳感網(wǎng)將信號(hào)傳遞至計(jì)算機(jī),供虛擬儀器軟件Labview顯示、存儲(chǔ),并進(jìn)行綜合分析。同時(shí),還能夠接收Labview上位機(jī)發(fā)出的命令,及時(shí)對(duì)測(cè)試流程進(jìn)行總體上的控制。干擾源智能型脈沖群發(fā)生器可以高頻尖峰或脈沖信號(hào),模擬現(xiàn)實(shí)中電路板可能遭遇的電磁干擾信號(hào),在干擾信號(hào)作用下參數(shù)數(shù)據(jù)的變化情況是電路板可靠性判斷的重要指標(biāo)。PCB可靠性測(cè)試系統(tǒng)避免缺陷元件的使用,有效提高產(chǎn)品的使用可靠性。無(wú)錫pcb板老化試驗(yàn)中心售價(jià)
測(cè)試順序的安排是后面的參數(shù)能夠檢查元器件經(jīng)前面參數(shù)測(cè)試后可能產(chǎn)生的變化。對(duì)有耐電壓、絕緣電阻測(cè)試要求的元器件,耐壓在前、絕緣在后,功能參數(shù)較后測(cè)試;對(duì)有擊穿電壓和漏電流測(cè)試要求的元器件,擊穿電壓在前,漏電流在后,功能參數(shù)較后測(cè)試。具有遞減失效率函數(shù)的元器件一定是適合篩選的,但并非所有適合篩選的元器件都一定滿(mǎn)足此條件。隨著電子元器件小型化的發(fā)展,我們也應(yīng)該不斷擴(kuò)展和研究新的控制元器件的質(zhì)量的篩選方法,繼續(xù)為整機(jī)產(chǎn)品使用的電子元器件的使用可靠性提供可靠的保障。深圳pcb高低溫試驗(yàn)中心廠家推薦PCB可靠性測(cè)試系統(tǒng)在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷。
二次篩選項(xiàng)目通常是外觀檢查、常溫初測(cè)、溫度循環(huán)、恒定加速度、顆粒碰撞噪聲檢測(cè)、常溫中測(cè)、高溫老煉、常溫終測(cè)、低溫測(cè)試、高溫測(cè)試、密封檢查等。而各項(xiàng)目的試驗(yàn)方法和試驗(yàn)條件等都是按相關(guān)國(guó)軍標(biāo)選取的,加載應(yīng)力是按標(biāo)準(zhǔn)或元器件規(guī)范選取的。因此相同器件在相同環(huán)境類(lèi)別下可以制定相同的篩選要求,以提高元器件篩選質(zhì)量和效率。二次篩選工作的各項(xiàng)試驗(yàn)以及其應(yīng)力的選擇是針對(duì)產(chǎn)品的使用要求而制定的,其篩選要求不能過(guò)嚴(yán)也不能過(guò)松。過(guò)于嚴(yán)格的篩選要求,會(huì)將原本滿(mǎn)足產(chǎn)品使用要求的元器件淘汰掉,進(jìn)而增加了篩選的成本及元器件的使用成本,在某種情況下,可能對(duì)元器件造成損壞,反而造成了更多的質(zhì)量隱患;若過(guò)于寬松的篩選條件,則會(huì)造成本不滿(mǎn)足產(chǎn)品要求的元器件順利過(guò)關(guān),對(duì)產(chǎn)品的可靠性有所影響。因此,必須制定出適合篩選應(yīng)力條件的要求,它將對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性有直接影響。
線路板可靠性測(cè)試?yán)錈釠_擊:把樣品放入溫度為60℃的恒溫箱中保持1小時(shí),然后讓其有5分鐘內(nèi)溫度降低到-30℃的恒溫箱中保持1小時(shí),然后讓其在1分鐘內(nèi)溫度升到60℃保持1小時(shí),接著又改變其溫度到30℃如此共20個(gè)循環(huán)樣品在高溫60℃下取出,然后在常溫下恢復(fù)2小時(shí)的檢測(cè)。要求:不得有破損、開(kāi)裂、脫層、變色、過(guò)孔開(kāi)路、變形(要符合過(guò)波峰后變形判定要求)等現(xiàn)象(過(guò)孔處借助顯微鏡看),不符合要求。具體測(cè)試方法不能一概而論,而是參照相應(yīng)的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范,采用合理的儀器和方法,由合格上崗的實(shí)驗(yàn)人員實(shí)施測(cè)試??煽啃援a(chǎn)品,才有高的競(jìng)爭(zhēng)能力。
功能測(cè)試功能測(cè)試是較早的自動(dòng)測(cè)試原理,它是特定PCB或特定單元的基本測(cè)試方法,可用各種測(cè)試設(shè)備來(lái)完成。功能測(cè)試主要有較終產(chǎn)品測(cè)試(FinalProductTest)和較新實(shí)體模型(HotMock-up)兩種。其他測(cè)試機(jī)也稱(chēng)為探針測(cè)試機(jī),也是一種常用的測(cè)試方法。由于在機(jī)械精度、速度和可靠性方面的進(jìn)步,它在過(guò)去幾年中已經(jīng)受到了普遍歡迎。此外,現(xiàn)在對(duì)于原型(Prototype)制造、低產(chǎn)量制造所需要的具有快速轉(zhuǎn)換、無(wú)夾具能力的測(cè)試系統(tǒng)的要求,使得其他測(cè)試成為較佳選擇。其他測(cè)試機(jī)的主要優(yōu)點(diǎn)是,它是較快速的到達(dá)市場(chǎng)時(shí)間(TimeToMarket)的工具,自動(dòng)生成測(cè)試,無(wú)夾具成本,良好的診斷和易于編程。PCB可靠性測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品性能才是可以信任的。杭州pcb溫升試驗(yàn)中心生產(chǎn)廠家
PCB可靠性測(cè)試系統(tǒng)是否達(dá)到規(guī)定可靠性要求。無(wú)錫pcb板老化試驗(yàn)中心售價(jià)
以前,通常采用直流雙臂 電橋測(cè)量斷路器的接觸電阻。但是,當(dāng)使用雙臂電橋進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量時(shí),由于雙臂電橋測(cè)量回路通過(guò)的是微弱的電流,難以消除電阻較大的氧化膜, 測(cè)出的電阻示值偏大,但氧化膜在大的電流下很容易被擊穿,不妨礙正常電流通過(guò)。因此,測(cè)試采用直流壓降法測(cè)試時(shí),電流不得太小。高壓斷路器導(dǎo)電 回路的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的存在,增加了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗,使接觸處的溫度升高,其值的大小直接影響正常工作時(shí)的 載流能力,在一定程度上影響短路電流的切斷能力。因此,斷路器每相導(dǎo)電回路電阻值是斷路器安裝、檢修、質(zhì)量驗(yàn)收的一項(xiàng)重要數(shù)據(jù)。無(wú)錫pcb板老化試驗(yàn)中心售價(jià)
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