隨著電子產(chǎn)品向小型化/集成化的發(fā)展,線路和層間間距越來越小,電遷移問題也日益受到關(guān)注。一旦發(fā)生電遷移會造成電子產(chǎn)品絕緣性能下降,甚至短路。電遷移失效同常規(guī)的過應(yīng)力失效不同,它的發(fā)生需要一個時間累積,失效通常會發(fā)生在**終客戶的使用過程中,可能在使用幾個月后,也可能在幾年后,往往會造成經(jīng)濟上的重大損失。但是,電遷移的發(fā)生不僅同離子有關(guān),它需要離子,電壓差,導體,傳輸通道,濕氣以及溫度等各種因素綜合作用,在長期累積下產(chǎn)生的失效。所以,通過在樣品上施加各類綜合應(yīng)力來評估產(chǎn)品后期使用的電遷移風險就顯得異常重要。SIR表面絕緣電阻測試的目的之一:基于可靠性的產(chǎn)品標定。浙江離子遷移絕緣電阻測試訂做價格
PCB/PCBA絕緣失效失效機理絕緣電阻是表征PCB絕緣性能的一個簡單而且容易測量的指標,絕緣失效是指絕緣電阻減小。一般,影響絕緣電阻的因素有溫度、濕度、電場強度以及樣品處理等。絕緣失效通??赡馨l(fā)生在PCB表面或者內(nèi)部,前者多見于電化學遷移(ECM)或化學腐蝕,后者則多見于導電陽極絲(CAF)。1、電化學遷移(ECM)電化學遷移是在直流電壓的影響下發(fā)生的離子運動。在潮濕條件下,金屬離子會在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當枝晶連接兩種導體時,便造成了短路,而且枝晶會因電流驟增而發(fā)生熔斷。1、電化學遷移(ECM)電化學遷移是在直流電壓的影響下發(fā)生的離子運動。在潮濕條件下,金屬離子會在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當枝晶連接兩種導體時,便造成了短路,而且枝晶會因電流驟增而發(fā)生熔斷。2、導電陽極絲(CAF)目前公認的CAF成因是銅離子的電化學遷移隨著銅鹽的沉積。在高溫高濕條件下,PCB內(nèi)部的樹脂和玻纖之間的附力劣化,促成玻纖表面的硅烷偶聯(lián)劑產(chǎn)生水解,樹脂和玻纖分離并形成可供離子遷移的通道。湖南智能電阻測試系統(tǒng)根據(jù)客戶實際需求定制,比如接入對應(yīng)ERP系統(tǒng)。
在確定為CAF失效之前,應(yīng)該確認連接線兩端的電阻是不是要小于菊花鏈區(qū)域的電阻。做法是將菊花鏈附近連接測試線纜的線路切斷。所有的測試結(jié)束后,如果發(fā)現(xiàn)某塊測試板連接線兩端的電阻確實小于菊花鏈區(qū)域的電阻,那么這塊測試板就不能作為數(shù)據(jù)分析的依據(jù)。常規(guī)結(jié)果判定:1.96小時靜置后絕緣電阻R1≤107歐姆,即判定樣本失效;2.當**終測試絕緣電阻R2<108歐姆,或者在測試過程中有3次記錄或以上出現(xiàn)R2<108歐姆即判定樣本失效。廣州維柯信息技術(shù)有限公司的高低阻(CAF/TCT)測試系統(tǒng)可以做到有效電壓測試。
可靠性試驗中,有一項,叫做高加速應(yīng)力試驗(簡稱HAST),主要是在測試IC封裝體對溫濕度的抵抗能力,藉以確保產(chǎn)品可靠性。這項試驗方式是需透過外接電源供應(yīng)器,將DC電壓源送入高壓鍋爐機臺設(shè)備內(nèi),再連接到待測IC插座(Socket)與測試版(HASTboard),進行待測IC的測試。然而這項試驗,看似簡單,但在宜特20多年的可靠性驗證經(jīng)驗中,卻發(fā)現(xiàn)客戶都會遇到一些難題需要克服。特別是芯片應(yīng)用日益復(fù)雜,精密度不斷提升,芯片采取如球柵數(shù)組封裝(Ball Grid Array,簡稱BGA)和芯片尺寸構(gòu)裝(Chip Scale package,簡稱CSP)封裝比例越來越高,且錫球間距也越來越小,在執(zhí)行HAST時,非常容易有電化學遷移(簡稱ECM)現(xiàn)象的產(chǎn)生,造成芯片于可靠性實驗過程中發(fā)生電源短路異常。SIR測試目的變動電路板設(shè)計或布局。
隨著電子產(chǎn)品的高密度化及電子制造的無鉛化,PCB及PCBA產(chǎn)品的技術(shù)水平、質(zhì)量要求也面臨嚴峻的挑戰(zhàn),PCB的設(shè)計與生產(chǎn)加工及組裝過程中需要更嚴格的工藝與原材料的控制。目前由于尚處于技術(shù)和工藝的轉(zhuǎn)型期,客戶對PCB制程及組裝的認識尚有較大差異,于是類似漏電、開路(線路、孔)、焊接不良、爆板分層之類的失效常常發(fā)生,常引起供應(yīng)商與用戶間的質(zhì)量責任糾紛,為此導致了嚴重的經(jīng)濟損失。通過對PCB及PCBA的失效現(xiàn)象進行失效分析,通過一系列分析驗證,找出失效原因,挖掘失效機理,對提高產(chǎn)品質(zhì)量,改進生產(chǎn)工藝,仲裁失效事故有重要意義。摒棄老的設(shè)備系統(tǒng)集成觀念!江西sir電阻測試服務(wù)電話
SIR測試對象:PCB軟板、助焊劑、清洗劑 、錫膏、錫渣還原劑。浙江離子遷移絕緣電阻測試訂做價格
可靠的電子組裝產(chǎn)品必須能在不同的環(huán)境中經(jīng)受住各種影響因素的考驗,例如:熱、機械、化學、電等因素。測試每一種考驗因素對系統(tǒng)的影響,通常以加速老化的方式來測試。這也就是說,測試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對象主要是各種測試電化學可靠性的方法。IPC將電化學遷移定義為:在直流偏壓的影響下,印刷線路板上的導電金屬纖維絲的生長。這種生長可能發(fā)生在外部表面、內(nèi)部界面或穿過大多數(shù)復(fù)合材料本體。增長的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經(jīng)過電沉積形成的。電沉積過程是從陽極溶解電離子,由電場運輸重新沉積在陰極上。在電路與組裝材料發(fā)生的反應(yīng)過程中,隨著時間的推移而逐漸形成這種失效。當金屬纖維絲在線路板表面以下生長時,稱為導電陽極絲或CAF,本文中不會討論這種情況,但這也是一個熱門話題。當電化學遷移發(fā)生在線路板的表面時,它會導致線路之間的金屬枝晶狀生長,比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進行測試。浙江離子遷移絕緣電阻測試訂做價格
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