電化學遷移是PCB組件常見的失效模式。無論是在設(shè)計過程開發(fā)階段,還是在生產(chǎn)過程、控制過程中,都需要充分的測試。在電子組裝行業(yè),有許多可用的方法可以來評估組件表面的電化學遷移傾向。根據(jù)行業(yè)標準測試將繼續(xù)為SIR。這是因為該測試**接近組件的正常使用壽命中導致電化學遷移的條件,而且它考慮了所有促進電化學遷移機制的四個因素之間的相互作用。當測試集中在一個或一些因素上時,例如測試離子含量,它們可能表明每個組件上離子種類的變化,但它們不能直接評估電化學遷移的傾向。在銅、電壓、濕度和離子含量之間的相互作用中存在著一些關(guān)鍵因素,電解會導致枝晶生長,這將繼續(xù)推動測試的最佳實踐朝著直接測試表面絕緣電阻的方向發(fā)展。**重要的是將SIR測試的條件盡可能地與操作條件相匹配。一旦裝配過程得到驗證和認可,局部萃取和離子色譜測試等工具和方法在維持離子含量水平以及在確定來料和工藝控制的變化方面都是有用的。根據(jù)客戶實際需求定制,比如接入對應(yīng)ERP系統(tǒng)。海南sir電阻測試銷售廠家
此外,失效電阻表面還存在少量的乙酸根離子(CH3COO-),由于工藝生產(chǎn)中引入的有機弱酸減小了溶液的pH、提高了溶液的導電率,促進了金屬陽極的溶解過程,加大金屬陽離子的濃度而提升枝晶的生長速率,造成了電阻的短路失效。從表1離子色譜結(jié)果可以得出原工藝中生產(chǎn)使用的SnPb焊料存在較高的氯離子(Cl-),說明SnPb焊料中的助焊劑中存在較高的氯離子,加速了電阻表面發(fā)生焊料的電化學遷移。參考國際電子工業(yè)聯(lián)接協(xié)會標準表面絕緣電阻手冊IPC-TM-6502.3.28.2[4],“/”表示未檢出,其含量低于方法檢出限,方法檢出限為0.003mg/cm2。湖南電阻測試售后服務(wù)表面絕緣電阻(SIR)被用來評估污染物對組裝件可靠性的影響。
可靠的電子組裝產(chǎn)品必須能在不同的環(huán)境中經(jīng)受住各種影響因素的考驗,例如:熱、機械、化學、電等因素。測試每一種考驗因素對系統(tǒng)的影響,通常以加速老化的方式來測試。這也就是說,測試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對象主要是各種測試電化學可靠性的方法。IPC將電化學遷移定義為:在直流偏壓的影響下,印刷線路板上的導電金屬纖維絲的生長。這種生長可能發(fā)生在外部表面、內(nèi)部界面或穿過大多數(shù)復合材料本體。增長的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經(jīng)過電沉積形成的。電沉積過程是從陽極溶解電離子,由電場運輸重新沉積在陰極上。在電路與組裝材料發(fā)生的反應(yīng)過程中,隨著時間的推移而逐漸形成這種失效。當金屬纖維絲在線路板表面以下生長時,稱為導電陽極絲或CAF,本文中不會討論這種情況,但這也是一個熱門話題。當電化學遷移發(fā)生在線路板的表面時,它會導致線路之間的金屬枝晶狀生長,比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進行測試。
幾十年來,行業(yè)標準一直認為SIR測試是比較好的方法。然而,在實踐中,這種方法有一些局限性。首先,它是在標準梳狀測試樣板上進行的,而不是實際的組裝產(chǎn)品。根據(jù)不同的PCB表面處理、回流工藝條件、處理工序等,需要進行**的測試設(shè)置。而且測試方法的選擇,可能需要組裝元器件,也可能不需要。由于和助焊劑分類有關(guān),這些因素的標準化是區(qū)分可比較的助焊劑類別的關(guān)鍵。另一方面,工藝的優(yōu)化和控制可能會遺漏一些關(guān)鍵的失效來源。其次,由于組件處于生產(chǎn)過程中,無法實時收集結(jié)果。根據(jù)測試方法的不同,測試時間**少為72小時,**多為28天,這使得測試對于過程控制來說太長了。從而促使制造商尋求能快速有效地表征電化學遷移傾向的測試方法,以控制組裝工藝。接口友好:軟件可定制,或開放數(shù)據(jù)接口,或接入實驗室LIMS系統(tǒng)。
某些國際**汽車電子大廠要求其不同供應(yīng)商,使用不同工藝,不同材質(zhì)的PCB光板,每一種類型全部需要通過電化學遷移測試才能獲得入門資格。01電化學遷移測試技術(shù)特點1、專業(yè)的設(shè)備:采用行業(yè)占有率比較高的主流進口設(shè)備,采樣速度更快,漏電捕捉精細,電阻測量精度高。2、專業(yè)的工程技術(shù)能力支持:除能為客戶提供專業(yè)的試驗評估外,還具備針對測試失效品的專業(yè)級失效分析能力,可實現(xiàn)一站式打包服務(wù)。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗箱,HAST箱,PCT等設(shè)備配合測試。廣州維柯GWHR-256 產(chǎn)品優(yōu)勢:容錯機制強:任何一組板卡發(fā)生故障不影響其它通道的正常測試。海南sir電阻測試銷售廠家
多通道導通電阻實時監(jiān)控測試系統(tǒng),32 通道/組,各、組所有參數(shù)可以獨自設(shè)置。海南sir電阻測試銷售廠家
類型1~2000V通道數(shù)16-256測試組數(shù)1-16組工作時間1-9999小時偏置電壓1-2000VDC(步進)測試電壓1-2000VDC(步進)電阻測量范圍1x104-1x1014Ω電阻測量精度1x104-1x1010Ω≤±2%1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤20%測試間隔時間1-600分鐘測試速度20mS/所有通道測試電壓穩(wěn)定時間1-600秒(可設(shè)置)高阻判定閥值1x106-109Ω短路保護電流閥值5–500uA保護電阻1MΩ測試電纜線材耐高溫特氟綸線(≧1014Ω,200℃)長度標配,office軟件、數(shù)據(jù)庫GWHR-256產(chǎn)品優(yōu)勢:1、精度高:優(yōu)于同業(yè)產(chǎn)品;2、測試速度快:20ms/所有通道;3、結(jié)構(gòu)、配置靈活:板卡設(shè)計,可選擇16路*N(1≥N≤16);4、測試配置靈活:每組板卡可設(shè)置不同的測試電壓,可同時完成多任務(wù)測試;5、容錯機制強:任何一組板卡發(fā)生故障不影響其它通道的正常測試;6、接口友好:軟件可定制,或開放數(shù)據(jù)接口,或接入實驗室LIMS系統(tǒng);7、操作方便:充分考慮實驗室應(yīng)用場景,方便工程師實施工作。 海南sir電阻測試銷售廠家
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