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來源: 發(fā)布時間:2023-09-14

耐CAF評估樣品制作影響因素&建議:因CAF產(chǎn)生的條件是處于有金屬鹽類與潮濕并存的情況下,由于電場驅(qū)動,離子沿著玻璃纖維與樹脂界面遷移而發(fā)生。因此,**根本的措施是讓玻璃纖維與樹脂界面致密而牢固的結合在一起,不存在任何隙縫。同時,減低樹脂的吸水率,進一步提高材料的耐CAF能力。導致樣品的CAF產(chǎn)生因素有如下:﹒PCB板由于不良玻璃質(zhì)處理、壓層缺陷、機械應力、熱應力或耐化學性差,鉆孔后引起壓層界面削弱或破壞.溫度和濕度***了壓層缺陷反應(可能有濕度閥值).pH值梯度促進CAF形成.導體間電壓梯度低至3伏到可能800伏.某些焊劑成分(聚乙二醇)或加工過程中產(chǎn)生的其它離子污染物智能電阻是一種集成了智能化功能的電阻器件。海南電阻測試歡迎選購

電阻測試

溫度電阻測試是一種特殊的電阻測試方法,用于測量電阻在不同溫度下的變化。電阻在溫度變化時會發(fā)生變化,這是由于電阻材料的溫度系數(shù)導致的。溫度電阻測試可以通過在待測電阻上施加一個恒定的電流或電壓,然后測量電路中的溫度來計算電阻的溫度系數(shù)。溫度電阻測試廣泛應用于溫度傳感器和溫度控制系統(tǒng)中,以確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和準確性。還有一些其他的電阻測試方法,例如噪聲電阻測試、頻率電阻測試等。噪聲電阻測試用于測量電阻中的噪聲水平,以評估電路的性能和穩(wěn)定性。頻率電阻測試用于測量電阻在不同頻率下的變化,以評估電路的頻率響應特性。這些電阻測試方法在特定的應用場景中具有重要的意義,可以幫助工程師優(yōu)化電路設計和改進產(chǎn)品性能。海南電阻測試歡迎選購印刷電路板的電極之間會出現(xiàn)離子轉移,出現(xiàn)絕緣劣化的現(xiàn)象。通常發(fā)生在PCB基板中。

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一、產(chǎn)品特點1.**溫度監(jiān)測系統(tǒng),使測試系統(tǒng)可適用任何環(huán)境試驗箱。2.采用高可靠性、高精度的測試儀器,并經(jīng)過CE認證,在計量方面均可溯源到國際標準。3.面向用戶開發(fā)的測試軟體,充分滿足不同用戶的獨特要求,使測試軟體的操作介面更完善、更方便。4.模組式的測試系統(tǒng)結構,使維修方便、快捷;具有良好的可擴展性。5.采用反應時間小于3毫秒并且壽命高達1000萬次的開關控制系統(tǒng),確保測試的可靠性。6.**的UPS供電系統(tǒng),使測試系統(tǒng)能夠保證測試資料的可靠性,可以保證在突然斷電時測量資料不丟失。7.細小的模塊外接插頭,使每個插頭能夠方便的通過環(huán)境試驗的通孔。二、設計原理導通電阻的測試方式是先對被測物體施加一個恒定直流電流,再準確測量出該被測物上的電壓,根據(jù)歐姆定律換算出電阻值;對于測試小電阻時,由于測試引線上存在一定的電阻,該引線電阻會嚴重影響到測量的精度,為此,需要通過四線測試模式來達到在測試過程中消除引線電阻所帶來的測試誤差。

一般我們使用這個方法來量測靜態(tài)的表面絕緣電阻(SIR)與動態(tài)的離子遷移現(xiàn)象(ION MIGRATION),另外,它也可以拿來作 CAF(Conductive Anodic ****ment,導電性細絲物,陽極性玻纖纖維之漏電現(xiàn)象)試驗。 注:CAF主要在測試助焊劑對PCB板吸濕性及玻璃纖維表面分離的影響。 表面絕緣電阻(SIR)被***用來評估污染物對組裝件可靠度的影響。跟其他方法相比,SIR的優(yōu)點除了可偵測局部的污染外,也可以測得離子及非離子污染物對印刷電路板(PCB)可靠度的影響,其效果遠比其他方法(如清潔度試驗、鉻酸銀試驗…等)來的有效及方便。 由于電路板布線越來越密,焊點與焊點也越來越近,所以這項實驗也可作為錫膏助焊劑的可用性評估參考。GWHR-256多通道 SIR/CAF實時監(jiān)控測試系統(tǒng)適用于IPC-TM-650標準,測試速度 20mS/所有通道。

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離子遷移(ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從設計方面:越小的距離(孔~孔、線~線、層~層、孔~線間)越易造成離子遷移現(xiàn)象;解決方案:結合制程能力與材料能力,優(yōu)化設計方案;(當然重點還是必須符合客戶要求)玻纖紗束與孔排列的方向;紗束與孔的方向一致時,會造成離子遷移的可能性比較大;解決方案:盡可能避免或減少紗束與孔排列一致的可能性,但此項受客戶產(chǎn)品設計的制約;產(chǎn)品的防濕保護設計;解決方案:選擇比較好的防濕設計,如涉及海運,建議采用PE袋或鋁箔袋包裝方式;PCB/PCBA絕緣失效分析導通電阻測試系統(tǒng)。江西多功能電阻測試有哪些

電阻測試設備比較復雜。海南電阻測試歡迎選購

Sir電阻測試是一種非接觸式的電阻測試方法,這種測試方法不需要直接接觸電路,因此可以避免對電路的損壞。同時,Sir電阻測試還具有高精度和高速度的優(yōu)點,可以快速準確地測量電路中的電阻值。它可以用來測量電路中的電阻值。這種測試方法具有高精度和高速度的優(yōu)點,可以快速準確地測量電路中的電阻值。同時,它還可以用來檢測電路中的其他問題,如短路和斷路。因此,掌握Sir電阻測試方法對于電子工程師來說非常重要。無論是在實驗室環(huán)境還是在工業(yè)生產(chǎn)中,Sir電阻測試都可以發(fā)揮重要作用,提高工作效率。海南電阻測試歡迎選購