絕緣電阻測(cè)量:-偏置電壓:100V+2V-測(cè)量電壓為100v時(shí)無(wú)極化變化-**小時(shí)間斜坡到100V=2秒-測(cè)量時(shí)間=60秒-被測(cè)樣品應(yīng)與其他樣品電隔離限流電阻:**小1mohm與PCB串聯(lián)在線測(cè)試程序：1）PCB干燥后立即進(jìn)行絕緣電阻測(cè)量;2）將樣品放入環(huán)境測(cè)試箱，并連接到在線測(cè)量設(shè)備。在試驗(yàn)結(jié)束前，不能取出樣品，也不能打開試驗(yàn)箱。（***組數(shù)據(jù)）3）施加溫度至85℃(持續(xù)時(shí)間3小時(shí))，然后施加濕度至85%的相對(duì)濕度(持續(xù)時(shí)間另一個(gè)3小時(shí))，沒(méi)有偏置電壓（第二組數(shù)據(jù)）。在85℃，85%濕度下放置96小時(shí)后，測(cè)量絕緣電阻為IR初始值（第三組數(shù)據(jù)）4）開始輸出偏置電壓100V-標(biāo)記為0小時(shí)，開始試驗(yàn);測(cè)試評(píng)估絕緣電阻性能的綜合解決方案。海南pcb離子遷移絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)

8、在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，建議每24到100個(gè)小時(shí)需要換用另外的電阻檢測(cè)器，確保測(cè)試電壓和偏置電壓的極性始終一致。在電阻測(cè)量過(guò)程中，為了保證測(cè)試的準(zhǔn)確性，如果觀察到周期性的電阻突降，也應(yīng)該被算作一次失效。因?yàn)殛?yáng)極導(dǎo)電絲是很細(xì)的，很容易被破壞掉。當(dāng)50%的部分已經(jīng)失效了，測(cè)試即可停止。當(dāng)CAF發(fā)生時(shí)，電阻偏小，施加到CAF失效兩端的電壓會(huì)下降。當(dāng)測(cè)試網(wǎng)絡(luò)的阻值接近限流電阻的阻值時(shí)，顯得尤為明顯。所以在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，并不需要調(diào)整電壓。9、500個(gè)小時(shí)的偏置電壓后（一共596個(gè)小時(shí)），像之前一樣重新進(jìn)行絕緣電阻的測(cè)量。湖北國(guó)內(nèi)電阻測(cè)試操作梳形電路“多指狀”互相交錯(cuò)的密集線路圖形，用板面清潔度、綠油絕緣性等，高電壓測(cè)試的一種特殊線路圖形。

5.1.硬件連接與操作步驟1)事先準(zhǔn)備好要求測(cè)試的PCB樣品，接好測(cè)試線，插入相對(duì)應(yīng)的航空座。2)把納伏表和可編程電源安裝好，連接儀器與計(jì)算機(jī)通信線。3)接好機(jī)柜電源，并檢查儀器是否有錯(cuò)誤提示，如有提示需先按照儀器說(shuō)明把錯(cuò)誤提示排除。4)根據(jù)軟件操作設(shè)置開始測(cè)試流程。注意：※在測(cè)試的過(guò)程禁止觸摸被測(cè)物品?！箮щ姲尾鍦y(cè)試線的航空頭?！缧柙O(shè)備檢修必須把電斷開。本系統(tǒng)只提供自有版權(quán)的導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試操作軟件，Windows操作系統(tǒng)、MS-office軟件及相關(guān)數(shù)據(jù)庫(kù)由客戶自行購(gòu)買*該系統(tǒng)可根據(jù)客戶的不同需求，定制特殊要求以實(shí)現(xiàn)更多功能

廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量電流的設(shè)定：使用低阻SIR系統(tǒng)測(cè)樣品導(dǎo)通性時(shí)可以設(shè)置測(cè)量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測(cè)樣品電阻時(shí)測(cè)量電流是不用設(shè)置，需設(shè)置測(cè)量電壓，因?yàn)閮x器恒壓工作測(cè)量漏電流，用歐姆定理計(jì)算電阻值。電阻值的測(cè)定時(shí)間可設(shè)定范圍是：CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測(cè)定時(shí)間范圍1-600分鐘可設(shè)置，單次取值電阻測(cè)定電壓穩(wěn)定時(shí)間范圍1-600秒可設(shè)置，完成多次取值電阻測(cè)定時(shí)間1-9999小時(shí)可設(shè)置。電阻測(cè)試范圍1x104 -1 x1014 Ω，電阻測(cè)量精度：1x104 -1x1010Ω≤±2%， 1x1010 -1x1011Ω≤±5%1x1011 -1x1014Ω≤±20%廣州維柯信息技術(shù)有限公司導(dǎo)通電阻測(cè)試低阻測(cè)試系統(tǒng)。

溫度電阻測(cè)試是一種特殊的電阻測(cè)試方法，用于測(cè)量電阻在不同溫度下的變化。電阻在溫度變化時(shí)會(huì)發(fā)生變化，這是由于電阻材料的溫度系數(shù)導(dǎo)致的。溫度電阻測(cè)試可以通過(guò)在待測(cè)電阻上施加一個(gè)恒定的電流或電壓，然后測(cè)量電路中的溫度來(lái)計(jì)算電阻的溫度系數(shù)。溫度電阻測(cè)試廣泛應(yīng)用于溫度傳感器和溫度控制系統(tǒng)中，以確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。還有一些其他的電阻測(cè)試方法，例如噪聲電阻測(cè)試、頻率電阻測(cè)試等。噪聲電阻測(cè)試用于測(cè)量電阻中的噪聲水平，以評(píng)估電路的性能和穩(wěn)定性。頻率電阻測(cè)試用于測(cè)量電阻在不同頻率下的變化，以評(píng)估電路的頻率響應(yīng)特性。這些電阻測(cè)試方法在特定的應(yīng)用場(chǎng)景中具有重要的意義，可以幫助工程師優(yōu)化電路設(shè)計(jì)和改進(jìn)產(chǎn)品性能。表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試可以用來(lái)評(píng)估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問(wèn)題。湖南sir電阻測(cè)試系統(tǒng)解決方案

測(cè)試電壓可在1.0-500V(2000V)之間以0.1V步進(jìn)任意可調(diào)。海南pcb離子遷移絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)

PCB離子遷移絕緣電阻測(cè)試是一項(xiàng)重要的測(cè)試方法，用于評(píng)估PCB板的絕緣性能。在電子產(chǎn)品制造過(guò)程中，PCB板的絕緣性能是至關(guān)重要的，它直接影響著產(chǎn)品的可靠性和安全性。因此，進(jìn)行PCB離子遷移絕緣電阻測(cè)試是必不可少的。PCB離子遷移是指在電場(chǎng)作用下，PCB板表面的離子會(huì)遷移到其他位置，導(dǎo)致電路短路或絕緣性能下降。這種現(xiàn)象主要是由于PCB板表面的污染物引起的，例如油污、灰塵、水分等。當(dāng)這些污染物存在時(shí)，它們會(huì)在電場(chǎng)的作用下形成離子，進(jìn)而遷移到其他位置，導(dǎo)致電路短路或絕緣性能下降。海南pcb離子遷移絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)