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湖北SIR和CAF表面絕緣電阻測試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-12-06

CAF發(fā)生的原理離子遷移現(xiàn)象是由溶液和電位等相關(guān)電化學(xué)現(xiàn)象引起的,尤其是在高密度電子產(chǎn)品中,材料與周圍環(huán)境相互影響,導(dǎo)致離子遷移現(xiàn)象發(fā)生,形成CAF通路第一階段的基本條件是有金屬鹽類存在以及有潮濕或蒸汽壓存在,這兩個(gè)條件都不可或缺。當(dāng)施加電壓或偏壓時(shí),便會(huì)產(chǎn)生第二階段的CAF增長。其中,測試的溫濕度越高,吸附的水分越多,生長得就越快;電壓越高,加快電極反應(yīng),CAF生長得越快;PH值越低,越易發(fā)生CAF;基材的吸水率越高,越易發(fā)生CAF。影響因素:電壓,材質(zhì)NO.2CAF發(fā)生的主要影響因素電阻測試設(shè)備操作手冊(cè)應(yīng)包含基本信息、使用方法、故障排除指南等內(nèi)容。湖北SIR和CAF表面絕緣電阻測試

電阻測試

導(dǎo)電陽極絲測試(Conductiveanodicfilamenttest,簡稱CAF)是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹狀生長的區(qū)別:1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅,而不是鉛或者錫;2.金屬絲是從陽極往陰極生長的;3.金屬絲是由金屬鹽組成,而不是中性的金屬原子組成。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源,在陽極電化學(xué)生成,并沿著樹脂和玻璃增強(qiáng)纖維之間界面移動(dòng)。隨著時(shí)代發(fā)展和技術(shù)的革新,PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來越嚴(yán)重,究其原因,是因?yàn)楝F(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多,這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短,這樣就更加容易在兩個(gè)金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。湖北SIR和CAF表面絕緣電阻測試智能電阻具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。

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8、在整個(gè)測試過程中,建議每24到100個(gè)小時(shí)需要換用另外的電阻檢測器,確保測試電壓和偏置電壓的極性始終一致。在電阻測量過程中,為了保證測試的準(zhǔn)確性,如果觀察到周期性的電阻突降,也應(yīng)該被算作一次失效。因?yàn)殛枠O導(dǎo)電絲是很細(xì)的,很容易被破壞掉。當(dāng)50%的部分已經(jīng)失效了,測試即可停止。當(dāng)CAF發(fā)生時(shí),電阻偏小,施加到CAF失效兩端的電壓會(huì)下降。當(dāng)測試網(wǎng)絡(luò)的阻值接近限流電阻的阻值時(shí),顯得尤為明顯。所以在整個(gè)測試過程中,并不需要調(diào)整電壓。9、500個(gè)小時(shí)的偏置電壓后(一共596個(gè)小時(shí)),像之前一樣重新進(jìn)行絕緣電阻的測量。

智能電阻具有更高的精度和穩(wěn)定性。傳統(tǒng)的電阻測試儀器往往受到環(huán)境因素的影響,導(dǎo)致測試結(jié)果的不準(zhǔn)確。而智能電阻通過內(nèi)置的智能芯片和傳感器,可以實(shí)時(shí)監(jiān)測環(huán)境溫度、濕度等因素,并自動(dòng)進(jìn)行校準(zhǔn),從而提高測試的精度和穩(wěn)定性。這將提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,滿足市場對(duì)產(chǎn)品的需求。智能電阻具有更高的自動(dòng)化程度。傳統(tǒng)的電阻測試需要人工操作,耗時(shí)耗力且容易出錯(cuò)。而智能電阻可以通過與測試設(shè)備的連接,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試。只需設(shè)置測試參數(shù),智能電阻就能自動(dòng)完成測試,并將測試結(jié)果傳輸給設(shè)備或計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析。這不僅提高了測試的效率,還減少了人為因素對(duì)測試結(jié)果的影響,提高了測試的準(zhǔn)確性。在電子設(shè)備領(lǐng)域,表面阻抗測試SIR測試被認(rèn)為是評(píng)估用戶線路板組裝材料可靠性的有效評(píng)估手段。

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離子遷移絕緣電阻測試是一種常用的電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測方法。它通過測量材料的離子遷移速率和絕緣電阻值,來評(píng)估材料的質(zhì)量和可靠性。離子遷移是指在電場作用下,材料中的離子在電極之間遷移的現(xiàn)象。離子遷移速率是評(píng)估材料質(zhì)量的重要指標(biāo)之一,因?yàn)殡x子遷移會(huì)導(dǎo)致電子產(chǎn)品的故障和損壞。離子遷移速率越高,材料的質(zhì)量越差,對(duì)電子產(chǎn)品的可靠性影響也越大。絕緣電阻是指材料對(duì)電流的阻礙能力。絕緣電阻值越高,材料的絕緣性能越好,對(duì)電子產(chǎn)品的保護(hù)作用也越強(qiáng)。絕緣電阻測試可以幫助檢測材料的絕緣性能,從而評(píng)估材料的質(zhì)量和可靠性。測試控制軟件管理模塊:用戶管理、工況管理、配置管理、設(shè)備管理。浙江表面絕緣電阻測試哪家好

智能電阻的應(yīng)用范圍更加廣,可以滿足不同行業(yè)和領(lǐng)域的需求。湖北SIR和CAF表面絕緣電阻測試

4、在初始的絕緣電阻測量后關(guān)閉測試系統(tǒng),使樣品在65±2℃或85±2℃、相對(duì)濕度為87+3/-2%RH、無偏壓的環(huán)境下靜置96個(gè)小時(shí)(±30分鐘)。96個(gè)小時(shí)(±30分鐘)的靜置期后,在每個(gè)菊花鏈網(wǎng)絡(luò)和地之間測試絕緣電阻。5、確認(rèn)所有的測試樣品的連接是有效的,每個(gè)測試電路對(duì)應(yīng)適當(dāng)?shù)南蘖麟娮?。然后將測試板與電源相連開始進(jìn)行T/H/B部分的CAF測試。6、確認(rèn)適當(dāng)?shù)钠秒妷阂呀?jīng)被加載在樣品上進(jìn)行周期性測試。為了比較不同內(nèi)層材料和制程的耐CAF性能,使用100V直流偏壓的標(biāo)準(zhǔn)CAF測試條件。為了確認(rèn)測試結(jié)果與實(shí)際壽命之間的關(guān)系,第二個(gè)偏置電壓條件需要選擇給定的最高工作電壓的兩倍。當(dāng)一個(gè)較小的偏置電壓不能有效地區(qū)別更多不同的耐CAF材料和制程時(shí),更高的偏置電壓由于會(huì)線性地影響失效時(shí)間,應(yīng)該被避免采用。這是因?yàn)檫^高的偏置電壓會(huì)抵消掉相對(duì)濕度的影響,而相對(duì)濕度由于局部加熱的原因是非常重要的失效機(jī)制部分。7、在96個(gè)小時(shí)的靜置時(shí)間后,測試電壓和偏置電壓的極性必須是始終一致的。湖北SIR和CAF表面絕緣電阻測試