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SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試服務(wù)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-12-19

導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試(Conductiveanodicfilamenttest,簡(jiǎn)稱(chēng)CAF)是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹(shù)狀生長(zhǎng)的區(qū)別:1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅,而不是鉛或者錫;2.金屬絲是從陽(yáng)極往陰極生長(zhǎng)的;3.金屬絲是由金屬鹽組成,而不是中性的金屬原子組成。焊盤(pán)中的銅金屬是金屬離子的主要來(lái)源,在陽(yáng)極電化學(xué)生成,并沿著樹(shù)脂和玻璃增強(qiáng)纖維之間界面移動(dòng)。隨著時(shí)代發(fā)展和技術(shù)的革新,PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來(lái)越嚴(yán)重,究其原因,是因?yàn)楝F(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來(lái)越多,這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來(lái)越短,這樣就更加容易在兩個(gè)金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。監(jiān)測(cè)模塊:狀態(tài)、數(shù)據(jù)曲線、測(cè)試配置、增加測(cè)試、預(yù)警。SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試服務(wù)

電阻測(cè)試

Sir電阻測(cè)試是一種非接觸式的電阻測(cè)試方法,這種測(cè)試方法不需要直接接觸電路,因此可以避免對(duì)電路的損壞。同時(shí),Sir電阻測(cè)試還具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn),可以快速準(zhǔn)確地測(cè)量電路中的電阻值。它可以用來(lái)測(cè)量電路中的電阻值。這種測(cè)試方法具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn),可以快速準(zhǔn)確地測(cè)量電路中的電阻值。同時(shí),它還可以用來(lái)檢測(cè)電路中的其他問(wèn)題,如短路和斷路。因此,掌握Sir電阻測(cè)試方法對(duì)于電子工程師來(lái)說(shuō)非常重要。無(wú)論是在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境還是在工業(yè)生產(chǎn)中,Sir電阻測(cè)試都可以發(fā)揮重要作用,提高工作效率。湖北CAF電阻測(cè)試性?xún)r(jià)比電阻測(cè)試設(shè)備對(duì)使用技巧有較高要求。

SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試服務(wù),電阻測(cè)試

從監(jiān)控的方式看(除阻值監(jiān)控外):ECM/SIR可以通過(guò)放大鏡進(jìn)行直觀的判斷;而CAF只能通過(guò)破壞性的切片進(jìn)行微觀條件下的分析;ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性,而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴(lài)度,故越來(lái)越多的產(chǎn)品被要求進(jìn)行ECM/SIR/CAF測(cè)試,如航空產(chǎn)品、汽車(chē)產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等,以確保產(chǎn)品在相對(duì)惡劣的使用條件下的壽命與可靠性;離子遷移既然是絕緣信賴(lài)度的***,因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管,因?yàn)檫@些正是離子遷移的重要元兇。例如:加水分解性氯、電鍍液中的鹽類(lèi)、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了這些控管,導(dǎo)致ECM或CAF的生成,便會(huì)造成產(chǎn)品在使用壽命及電性功能上的障礙;藉著控制鹵素及金屬鹽類(lèi)的含量、銅皮上的鉻含量、樹(shù)脂中的氯含量、表面清潔度(防焊前處理),這些對(duì)絕緣劣化影響很大的項(xiàng)目,可以大幅提升高密度電路板的信賴(lài)性。

PCB/PCBA絕緣失效的表征電介質(zhì)長(zhǎng)期受到點(diǎn)場(chǎng)、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場(chǎng)的作用下,電介質(zhì)會(huì)發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象,這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對(duì)介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來(lái)表征。什么是PCB/PCBA絕緣失效?PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生能量損耗,這種損耗很大時(shí),原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能,使電介質(zhì)溫度升高,絕緣老化,甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦,終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo),電介質(zhì)即絕緣材料,是電氣設(shè)備、裝置中用來(lái)隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì),通過(guò)各類(lèi)導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。防止發(fā)生離子遷移故障的一個(gè)重要措施當(dāng)然是要保持使用環(huán)境的干燥。

SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試服務(wù),電阻測(cè)試

在進(jìn)行Sir電阻測(cè)試之前,需要準(zhǔn)備一臺(tái)Sir電阻測(cè)試儀。這種儀器通常由一個(gè)發(fā)射器和一個(gè)接收器組成。發(fā)射器會(huì)產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),而接收器會(huì)測(cè)量電磁場(chǎng)的變化。通過(guò)測(cè)量電磁場(chǎng)的變化,可以計(jì)算出電路中的電阻值。在進(jìn)行Sir電阻測(cè)試時(shí),需要將發(fā)射器和接收器分別放置在電路的兩個(gè)不同位置。發(fā)射器會(huì)產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),而接收器會(huì)測(cè)量電磁場(chǎng)的變化。通過(guò)測(cè)量電磁場(chǎng)的變化,可以計(jì)算出電路中的電阻值。通常情況下,電阻值越大,電磁場(chǎng)的變化越小。因此,通過(guò)測(cè)量電磁場(chǎng)的變化,可以得到電路中的電阻值。電阻測(cè)試用于測(cè)量電路中的電阻值。海南SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試設(shè)備

電阻測(cè)試設(shè)備操作手冊(cè)應(yīng)包含基本信息、使用方法、故障排除指南等內(nèi)容。SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試服務(wù)

在電子產(chǎn)品的制造和維修過(guò)程中,電阻測(cè)試配件起著至關(guān)重要的作用。電阻測(cè)試配件通過(guò)測(cè)量電路中的電阻值來(lái)判斷電路的工作狀態(tài)。電阻是電子元器件中基本的一種,它的作用是限制電流的流動(dòng),控制電路的工作狀態(tài)。電阻的大小決定了電流的大小,從而影響整個(gè)電路的性能。因此,電阻測(cè)試配件的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對(duì)于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。電阻箱是一種可以調(diào)節(jié)電阻值的測(cè)試儀器。它通常由多個(gè)電阻組成,通過(guò)選擇不同的電阻值來(lái)模擬不同的電路條件。電阻箱廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品的調(diào)試和測(cè)試過(guò)程中,可以幫助工程師快速定位和解決電路中的問(wèn)題。SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試服務(wù)