在有偏置電壓加載的情況下，一旦水凝結(jié)在測試樣品表面，有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候，也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除，確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境，其相對濕度的波動時間越短越好，不允許超過5分鐘。保持測試樣品無污染，做好標(biāo)記，用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備，防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線，連接后再清潔。烘干，在105±2℃下烘烤6小時。進(jìn)行預(yù)處理，在中立環(huán)境下，保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。智能電阻的應(yīng)用范圍更加廣，可以滿足不同行業(yè)和領(lǐng)域的需求。陜西直銷電阻測試系統(tǒng)

電阻測試種類繁多，包括靜態(tài)電阻測試、動態(tài)電阻測試、溫度電阻測試等。靜態(tài)電阻測試是常見的電阻測試方法之一。它通過將待測電阻與一個已知電阻串聯(lián)，然后通過測量電路中的電壓和電流來計算待測電阻的阻值。這種測試方法簡單易行，適用于大多數(shù)電阻測試場景。在進(jìn)行靜態(tài)電阻測試時，需要注意測試電路的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性，以確保測試結(jié)果的可靠性。動態(tài)電阻測試是一種更為精確的電阻測試方法。它通過在待測電阻上施加一個交變電壓或交變電流，然后測量電路中的相位差和幅度來計算待測電阻的阻值。與靜態(tài)電阻測試相比，動態(tài)電阻測試可以消除電路中的噪聲和干擾，提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。動態(tài)電阻測試常用于對高精度電阻的測試，例如精密儀器和測量設(shè)備。廣東智能電阻測試廠家供應(yīng)四線法的基本原理在于通過將電流引入被測件的兩個端點，并通過另外兩根單獨的引線在被測件的兩端測量電壓。

離子遷移的兩大階段離子遷移發(fā)生的主因是樹脂與玻纖之間的附著力不足，或含浸時親膠性不良，兩者之間一旦出現(xiàn)間隙（Gap）后，又在偏壓驅(qū)動之下，使得銅鹽獲得可移動的路徑后，于是CAF就進(jìn)一步形成了。離子遷移的發(fā)生可分為兩階段：STEPl是高溫高濕的影響下，使得樹脂與玻纖之間的附著力出現(xiàn)劣化，并促成玻纖表面硅烷處理層產(chǎn)生水解，進(jìn)而形成了對銅金屬腐蝕的環(huán)境。STEP2則已出現(xiàn)了銅腐蝕的水解反應(yīng)，并形成了銅鹽的沉積物，已到達(dá)不可逆反應(yīng)，其反應(yīng)式如下：

PCBA測試是PCBA制程中控制產(chǎn)品品質(zhì)的一個重要環(huán)節(jié)，是為了檢測PCBA板是否有足夠的可靠性來完成以后的工作，這會直接關(guān)系到以后的用戶體驗和返修率，所以PCBA可靠性測試顯得尤為重要。一般的PCBA可靠性測試分為ICT測試、FCT測試、疲勞測試、模擬環(huán)境測試、老化測試。1、ICT測試：ICT測試主要是元器件焊接情況、電路的通斷、電壓和電流數(shù)值及波動曲線、振幅、噪音的測試。2、FCT測試：FCT測試需要進(jìn)行IC程序燒制，然后將PCBA板連接負(fù)載，模擬用戶輸入輸出，對PCBA板進(jìn)行功能檢測，發(fā)現(xiàn)硬件和軟件中存在的問題,實現(xiàn)軟硬件聯(lián)調(diào)，確保前端制造和焊接正常。3、疲勞測試：老化測試主要是對PCBA板進(jìn)行抽樣，模擬用戶使用進(jìn)行功能的高頻、長時間操作，觀察是否出現(xiàn)失效，判斷測試出現(xiàn)故障的概率，以此反饋電子產(chǎn)品內(nèi)PCBA板的工作性能。4、模擬環(huán)境測試：模擬環(huán)境測試主要是將PCBA板暴露在極限值的溫度、濕度、跌落、濺水、振動下，獲得隨機(jī)樣本的測試結(jié)果，從而推斷整個PCBA板批次產(chǎn)品的可靠性。5、老化測試：老化測試是對PCBA板進(jìn)行長時間的通電測試，模擬用戶使用，保持其工作并觀察是否出現(xiàn)任何失效故障，經(jīng)過老化測試后的電子產(chǎn)品才能批量出廠銷售。表面絕緣阻抗(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCBA的表面清潔度（包括加工、制造過程的殘留）。

這種生長可能發(fā)生在外部表面、內(nèi)部界面或穿過大多數(shù)復(fù)合材料本體。增長的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經(jīng)過電沉積形成的。電沉積過程是從陽極溶解電離子，由電場運輸重新沉積在陰極上。在電路與組裝材料發(fā)生的反應(yīng)過程中，隨著時間的推移而逐漸形成這種失效。當(dāng)金屬纖維絲在線路板表面以下生長時，稱為導(dǎo)電陽極絲或CAF，本文中不會討論這種情況，但這也是一個熱門話題。當(dāng)電化學(xué)遷移發(fā)生在線路板的表面時，它會導(dǎo)致線路之間的金屬枝晶狀生長，比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進(jìn)行測試。可靠的電子組裝產(chǎn)品必須能在不同的環(huán)境中經(jīng)受住各種影響因素的考驗，例如：熱、機(jī)械、化學(xué)、電等因素。測試每一種考驗因素對系統(tǒng)的影響，通常以加速老化的方式來測試。這也就是說，測試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對象主要是各種測試電化學(xué)可靠性的方法。IPC將電化學(xué)遷移定義為：在直流偏壓的影響下，印刷線路板上的導(dǎo)電金屬纖維絲的生長，由于起火事故往往破壞了PCB的原始狀態(tài)，所以有的即便是離子遷移故障也無法加以確定。廣西pcb離子遷移絕緣電阻測試系統(tǒng)解決方案

智能電阻具有高精度的特點。陜西直銷電阻測試系統(tǒng)

從監(jiān)控的方式看（除阻值監(jiān)控外）：ECM/SIR可以通過放大鏡進(jìn)行直觀的判斷；而CAF只能通過破壞性的切片進(jìn)行微觀條件下的分析；ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性，而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴度，故越來越多的產(chǎn)品被要求進(jìn)行ECM/SIR/CAF測試，如航空產(chǎn)品、汽車產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等，以確保產(chǎn)品在相對惡劣的使用條件下的壽命與可靠性；離子遷移既然是絕緣信賴度的***，因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管，因為這些正是離子遷移的重要元兇。例如：加水分解性氯、電鍍液中的鹽類、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了這些控管，導(dǎo)致ECM或CAF的生成，便會造成產(chǎn)品在使用壽命及電性功能上的障礙；藉著控制鹵素及金屬鹽類的含量、銅皮上的鉻含量、樹脂中的氯含量、表面清潔度（防焊前處理），這些對絕緣劣化影響很大的項目，可以大幅提升高密度電路板的信賴性。陜西直銷電阻測試系統(tǒng)