廣州維柯信息技術(shù)有限公司【SIR測試：確保汽車電子安全的關(guān)鍵環(huán)節(jié)】配置靈活:模塊化設(shè)計，可選擇16模塊*N（1≤N≤16);16通道/模塊；l測試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測試電壓，可同時完成多工況測試；在汽車電子領(lǐng)域，SIR測試尤為重要，直接關(guān)系到行車安全。汽車電子系統(tǒng)必須在高溫、潮濕、振動等惡劣環(huán)境下保持高度的電氣穩(wěn)定性。通過定期的SIR測試，工程師可以驗證電路板涂層和封裝材料的耐久性，預防電路間的漏電和短路，保障車輛電子系統(tǒng)的正常運行，減少因電氣故障引發(fā)的安全隱患，為駕乘者提供更加安心的出行體驗。選擇智能電阻時，用戶需要根據(jù)具體需求考慮精度、穩(wěn)定性、接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品。海南供應電阻測試歡迎選購

半導體分立器件∶二極管、三極管、場效應管、達林頓陣列、半導體光電子器件等;被動元件：電阻器;電容器;磁珠;電感器;變壓器;晶體振蕩器;晶體諧報器;繼電器;電連接器;開關(guān)及面板元件;電源模塊：濾波器、電源模塊、高壓隔離運放、DC/DC、DC/AC；功率器件：功率器件、大功率器件；連接器：圓形連接器、矩形，印刷版插座等。元器件篩選覆蓋標準：GJB7243-2011軍電子元器件篩選技術(shù)要求；GJB128A-97半導體分立器件試驗方法；GJB360A-96電子及電?元件試驗方法；GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序；GJB40247A-2006軍電子元器件破壞性物理分析方法；QJ10003—2008進?元器件篩選指南；MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法；MIL-STD-883G；東莞電阻測試離子遷移的表現(xiàn)可以通過表面絕緣電阻（SIR）測試電阻值顯現(xiàn)出來。

電阻箱是一種可以調(diào)節(jié)電阻值的測試儀器。它通常由多個電阻組成，通過選擇不同的電阻值來模擬不同的電路條件。電阻箱廣泛應用于電子產(chǎn)品的調(diào)試和測試過程中，可以幫助工程師快速定位和解決電路中的問題。在電子產(chǎn)品的制造和維修過程中，電阻測試配件起著至關(guān)重要的作用。電阻測試配件通過測量電路中的電阻值來判斷電路的工作狀態(tài)。電阻是電子元器件中基本的一種，它的作用是限制電流的流動，控制電路的工作狀態(tài)。電阻的大小決定了電流的大小，從而影響整個電路的性能。因此，電阻測試配件的準確性和穩(wěn)定性對于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。

1.碳膜的多采用酚醛樹脂，其結(jié)構(gòu)上存在羥基與苯環(huán)直接相連,由于共軛效應,氧原子上未共享電子對移向苯環(huán)上而使氫原子易成H+,它在堿溶液中與OH-作用,引起水解致使整個分子受破壞，同時高溫加速水解。2.文字油墨的主體是不形成網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)或體型結(jié)構(gòu)的線型樹脂，此類樹脂是碳原子以直鏈形式連接，穩(wěn)定性差。溶劑對表面分子鏈先溶劑化，然后樹脂內(nèi)部逐步溶劑化，使油墨溶脹引起鼓泡或脫落。3.采用中性水基清洗或常溫清洗可緩解碳膜和文字油墨等材料的破壞，在規(guī)定的清洗時限內(nèi)保持材料的完好性。2、原因分析闊智通測科技（廣州）有限公司QualtecTongceTechnology(Guangzhou)Co.,Ltdn案例分享3、PCBA水基清洗技術(shù)以XX水基清洗劑為例，結(jié)合了溶劑和表面活性劑技術(shù)優(yōu)點的水基清洗技術(shù)，具有寬大的應用窗口和從電子基材表面徹底去除所有污染物的能力。在電子設(shè)備制造和維修過程中，電阻測試是非常重要的一環(huán)。

在七天的測試中，不同模塊之間的表面絕緣電阻值衰減必須少于10Ohms，但是要排除**開始24小時的穩(wěn)定時間。電壓是恒定不變的。這和ECM測試在很多方面不一樣。兩者的不同點是：持續(xù)時間、測試箱體條件和頻繁測量數(shù)據(jù)的目的。樣板同樣需要目測檢查枝晶生長是否超過間距的20%和是否有任何腐蝕引起的變色問題。表面絕緣電阻（SIR）IPC-TM-650方法定義了在高濕度環(huán)境下表面絕緣電阻的測試條件。SIR測試在40°C和相對濕度為90%的箱體里進行。樣板的制備和ECM測試一樣，都是依據(jù)方法制備（如圖1）。***版本的測試要求規(guī)定每20分鐘要檢查一次樣板。在電子設(shè)備領(lǐng)域，表面阻抗測試SIR測試被認為是評估用戶線路板組裝材料可靠性的有效評估手段。東莞電阻測試

從而使絕緣體處于離子導電狀態(tài)。顯然，這將使絕緣體的絕緣性能下降甚至成為導體而造成短路故障。海南供應電阻測試歡迎選購

另一方面，工藝的優(yōu)化和控制可能會遺漏一些關(guān)鍵的失效來源。其次，由于組件處于生產(chǎn)過程中，無法實時收集結(jié)果。根據(jù)測試方法的不同，測試時間**少為72小時，**多為28天，這使得測試對于過程控制來說太長了。從而促使制造商尋求能快速有效地表征電化學遷移傾向的測試方法，以控制組裝工藝。幾十年來，行業(yè)標準一直認為SIR測試是比較好的方法。然而，在實踐中，這種方法有一些局限性。首先，它是在標準梳狀測試樣板上進行的，而不是實際的組裝產(chǎn)品。根據(jù)不同的PCB表面處理、回流工藝條件、處理工序等，需要進行**的測試設(shè)置。而且測試方法的選擇，可能需要組裝元器件，也可能不需要。由于和助焊劑分類有關(guān)，這些因素的標準化是區(qū)分可比較的助焊劑類別的關(guān)鍵。海南供應電阻測試歡迎選購