PCBA測(cè)試是PCBA制程中控制產(chǎn)品品質(zhì)的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，是為了檢測(cè)PCBA板是否有足夠的可靠性來(lái)完成以后的工作，這會(huì)直接關(guān)系到以后的用戶(hù)體驗(yàn)和返修率，所以PCBA可靠性測(cè)試顯得尤為重要。一般的PCBA可靠性測(cè)試分為ICT測(cè)試、FCT測(cè)試、疲勞測(cè)試、模擬環(huán)境測(cè)試、老化測(cè)試。1、ICT測(cè)試：ICT測(cè)試主要是元器件焊接情況、電路的通斷、電壓和電流數(shù)值及波動(dòng)曲線(xiàn)、振幅、噪音的測(cè)試。2、FCT測(cè)試：FCT測(cè)試需要進(jìn)行IC程序燒制，然后將PCBA板連接負(fù)載，模擬用戶(hù)輸入輸出，對(duì)PCBA板進(jìn)行功能檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)硬件和軟件中存在的問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)軟硬件聯(lián)調(diào)，確保前端制造和焊接正常。3、疲勞測(cè)試：老化測(cè)試主要是對(duì)PCBA板進(jìn)行抽樣，模擬用戶(hù)使用進(jìn)行功能的高頻、長(zhǎng)時(shí)間操作，觀(guān)察是否出現(xiàn)失效，判斷測(cè)試出現(xiàn)故障的概率，以此反饋電子產(chǎn)品內(nèi)PCBA板的工作性能。4、模擬環(huán)境測(cè)試：模擬環(huán)境測(cè)試主要是將PCBA板暴露在極限值的溫度、濕度、跌落、濺水、振動(dòng)下，獲得隨機(jī)樣本的測(cè)試結(jié)果，從而推斷整個(gè)PCBA板批次產(chǎn)品的可靠性。5、老化測(cè)試：老化測(cè)試是對(duì)PCBA板進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的通電測(cè)試，模擬用戶(hù)使用，保持其工作并觀(guān)察是否出現(xiàn)任何失效故障，經(jīng)過(guò)老化測(cè)試后的電子產(chǎn)品才能批量出廠(chǎng)銷(xiāo)售。智能電阻的應(yīng)用范圍更加廣，可以滿(mǎn)足不同行業(yè)和領(lǐng)域的需求。湖南SIR和CAF電阻測(cè)試系統(tǒng)

在精密電子制造業(yè)的舞臺(tái)上，每一塊PCBA（印刷電路板組裝）的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展，PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升，如何有效控制生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生的污染物，確保電路板的長(zhǎng)期可靠性，成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，正是這一挑戰(zhàn)的解決方案?！旧疃榷床?，精確監(jiān)測(cè)】廣州維柯多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn)，專(zhuān)為PCBA的可靠性評(píng)估而設(shè)計(jì)，它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控SIR（表面絕緣電阻）和CAF（導(dǎo)電陽(yáng)極絲）的變化，精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。廣西CAF電阻測(cè)試原理HAST測(cè)試是目前所有半導(dǎo)體公司等行業(yè)對(duì)芯片等器件測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試之一。

在有偏置電壓加載的情況下，一旦水凝結(jié)在測(cè)試樣品表面，有可能會(huì)造成表面樹(shù)枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候，也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹(shù)枝狀晶體的生長(zhǎng)。這樣的情況必須被排除，確保能夠得到有意義的測(cè)試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對(duì)濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境，其相對(duì)濕度的波動(dòng)時(shí)間越短越好，不允許超過(guò)5分鐘。保持測(cè)試樣品無(wú)污染，做好標(biāo)記，用無(wú)污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備，防止短路和開(kāi)路。清潔后連接導(dǎo)線(xiàn)，連接后再清潔。烘干，在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理，在中立環(huán)境下，保持23±2℃和50±5%的相對(duì)濕度至少24h。2、在該測(cè)試方法中相對(duì)濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對(duì)濕度偏差會(huì)造成電阻量測(cè)結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。

電阻測(cè)試夾具可以幫助工程師快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行電阻測(cè)試，提高工作效率。選擇電阻測(cè)試配件時(shí)，首先要考慮其準(zhǔn)確性。準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果對(duì)于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要，因此需要選擇具有高精度的電阻測(cè)試配件。電阻測(cè)試配件的穩(wěn)定性也是一個(gè)重要的考慮因素。穩(wěn)定的測(cè)試配件可以保證測(cè)試結(jié)果的一致性，減少誤差的發(fā)生。不同的電子產(chǎn)品對(duì)電阻測(cè)試配件的要求不同，因此需要根據(jù)實(shí)際需求選擇適用范圍的配件。一般來(lái)說(shuō)，具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實(shí)用。選擇品牌的電阻測(cè)試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。品牌通常具有豐富的經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)，能夠提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和專(zhuān)業(yè)的技術(shù)支持。電阻測(cè)試設(shè)備的售后服務(wù)對(duì)于用戶(hù)來(lái)說(shuō)非常重要。

01電化學(xué)遷移測(cè)試技術(shù)特點(diǎn)1、專(zhuān)業(yè)的設(shè)備：采用行業(yè)占有率比較高的主流進(jìn)口設(shè)備，采樣速度更快，漏電捕捉精細(xì)，電阻測(cè)量精度高。2、專(zhuān)業(yè)的工程技術(shù)能力支持：除能為客戶(hù)提供專(zhuān)業(yè)的試驗(yàn)評(píng)估外，還具備針對(duì)測(cè)試失效品的專(zhuān)業(yè)級(jí)失效分析能力，可實(shí)現(xiàn)一站式打包服務(wù)。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱，HAST箱，PCT等設(shè)備配合測(cè)試。某些國(guó)際**汽車(chē)電子大廠(chǎng)要求其不同供應(yīng)商，使用不同工藝，不同材質(zhì)的PCB光板，每一種類(lèi)型全部需要通過(guò)電化學(xué)遷移測(cè)試才能獲得入門(mén)資格。電阻測(cè)試設(shè)備操作手冊(cè)應(yīng)包含基本信息、使用方法、故障排除指南等內(nèi)容。浙江SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試分析

表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試是通過(guò)在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的試驗(yàn)。湖南SIR和CAF電阻測(cè)試系統(tǒng)

另一方面，工藝的優(yōu)化和控制可能會(huì)遺漏一些關(guān)鍵的失效來(lái)源。其次，由于組件處于生產(chǎn)過(guò)程中，無(wú)法實(shí)時(shí)收集結(jié)果。根據(jù)測(cè)試方法的不同，測(cè)試時(shí)間**少為72小時(shí)，**多為28天，這使得測(cè)試對(duì)于過(guò)程控制來(lái)說(shuō)太長(zhǎng)了。從而促使制造商尋求能快速有效地表征電化學(xué)遷移傾向的測(cè)試方法，以控制組裝工藝。幾十年來(lái)，行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)一直認(rèn)為SIR測(cè)試是比較好的方法。然而，在實(shí)踐中，這種方法有一些局限性。首先，它是在標(biāo)準(zhǔn)梳狀測(cè)試樣板上進(jìn)行的，而不是實(shí)際的組裝產(chǎn)品。根據(jù)不同的PCB表面處理、回流工藝條件、處理工序等，需要進(jìn)行**的測(cè)試設(shè)置。而且測(cè)試方法的選擇，可能需要組裝元器件，也可能不需要。由于和助焊劑分類(lèi)有關(guān)，這些因素的標(biāo)準(zhǔn)化是區(qū)分可比較的助焊劑類(lèi)別的關(guān)鍵。湖南SIR和CAF電阻測(cè)試系統(tǒng)