一般而言，SIR測(cè)試通常用于對(duì)助焊劑和/或清潔工藝進(jìn)行分類、鑒定或比較。對(duì)于后者，SIR測(cè)試通常用于評(píng)估一個(gè)人的“免清洗”焊接操作。執(zhí)行，例如85°C/85%RH和40°C/90%，并定期獲得絕緣電阻(IR)測(cè)量值。表面絕緣電阻測(cè)試（SIR測(cè)試）根據(jù)IPC的定義，表面絕緣電阻(SIR)是在特定環(huán)境和電氣條件下確定的一對(duì)觸點(diǎn)、導(dǎo)體或接地設(shè)備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領(lǐng)域，SIR測(cè)試——通常也稱為溫濕度偏差(THB)測(cè)試——用于評(píng)估產(chǎn)品或工藝的抗“通過(guò)電流泄漏或電氣短路（即樹枝狀生長(zhǎng)）導(dǎo)致故障”。SIR測(cè)試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定SIR測(cè)試策略時(shí)，選擇用于測(cè)試的產(chǎn)品或過(guò)程將有助于確定**合適的SIR測(cè)試方法以及**適用的測(cè)試工具。通過(guò)表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。廣東CAF電阻測(cè)試分析

電遷移失效同常規(guī)的過(guò)應(yīng)力失效不同，它的發(fā)生需要一個(gè)時(shí)間累積，失效通常會(huì)發(fā)生在**終客戶的使用過(guò)程中，可能在使用幾個(gè)月后，也可能在幾年后，往往會(huì)造成經(jīng)濟(jì)上的重大損失。但是，電遷移的發(fā)生不僅同離子有關(guān)，它需要離子，電壓差，導(dǎo)體，傳輸通道，濕氣以及溫度等各種因素綜合作用，在長(zhǎng)期累積下產(chǎn)生的失效。隨著電子產(chǎn)品向小型化/集成化的發(fā)展，線路和層間間距越來(lái)越小，電遷移問(wèn)題也日益受到關(guān)注。一旦發(fā)生電遷移會(huì)造成電子產(chǎn)品絕緣性能下降，甚至短路。所以，通過(guò)在樣品上施加各類綜合應(yīng)力來(lái)評(píng)估產(chǎn)品后期使用的電遷移風(fēng)險(xiǎn)就顯得異常重要。維柯表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)能幫助第三方實(shí)驗(yàn)室有效監(jiān)測(cè)，檢測(cè)。廣西PCB絕緣電阻測(cè)試服務(wù)電阻測(cè)試設(shè)備對(duì)使用技巧有較高要求。

隨著電子設(shè)備的小型化、集成度提高，對(duì)材料的絕緣性能要求也日益嚴(yán)格。廣州維柯信息技術(shù)有限公司走在科技前沿，通過(guò)不斷的技術(shù)創(chuàng)新，推出了SIR表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)，為材料科學(xué)和電氣工程領(lǐng)域帶來(lái)了一場(chǎng)技術(shù)分享。該系統(tǒng)采用了準(zhǔn)確的傳感器技術(shù)和數(shù)據(jù)分析算法，能夠深入分析材料表面絕緣性能的細(xì)微變化，為科研工作者提供了寶貴的數(shù)據(jù)支持，促進(jìn)了新材料的研發(fā)和應(yīng)用。同時(shí)，廣州維柯還注重用戶體驗(yàn)，系統(tǒng)設(shè)計(jì)兼顧了易用性和精確性，即便是復(fù)雜測(cè)試也能輕松完成，有效縮短了產(chǎn)品從研發(fā)到市場(chǎng)的周期。

廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR-CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng)——GWHR256-500，可在設(shè)定的環(huán)境參數(shù)下進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試樣品，觀察并記錄被測(cè)樣品阻抗變化狀況。系統(tǒng)可通過(guò)曲線、表格的形式對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)和管理，客戶根據(jù)需要可導(dǎo)出為Excel表格式，對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行分析。***用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評(píng)估，以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評(píng)估。通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選)，測(cè)試組數(shù)1-16組（組數(shù)可選）測(cè)試時(shí)間1-9999小時(shí)(可設(shè)置)偏置電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）測(cè)試電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）偏置電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）測(cè)試電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）電阻測(cè)量范圍1x106-1x1014Ω電阻測(cè)量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。在電子設(shè)備制造和維修過(guò)程中，電阻測(cè)試是非常重要的一環(huán)。

科技**未來(lái)，GWHR256為PCBA質(zhì)量把關(guān)》在追求零缺陷的電子制造行業(yè)中，預(yù)防總是優(yōu)于糾正。GWHR256系統(tǒng)憑借其高度智能化的設(shè)計(jì)，不僅能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)，還能通過(guò)自檢功能確保自身的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性，為PCBA的生產(chǎn)過(guò)程加上了一道保險(xiǎn)鎖。在系統(tǒng)內(nèi)部，先進(jìn)的溫濕度監(jiān)測(cè)模塊，確保測(cè)試環(huán)境的恒定，排除外界因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的干擾，讓每一次測(cè)試都準(zhǔn)確可靠。【環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)，操作便捷】考慮到實(shí)際生產(chǎn)環(huán)境的多樣性，GWHR256系統(tǒng)設(shè)計(jì)有良好的環(huán)境適應(yīng)性，能在不同溫濕度條件下穩(wěn)定工作，且配備有不間斷電源配置，保證測(cè)試連續(xù)性。其操作界面友好，數(shù)據(jù)可視化直觀，無(wú)論是曲線展示還是Excel格式導(dǎo)出，都能輕松實(shí)現(xiàn)，為工程師提供高效、便捷的測(cè)試體驗(yàn)。CAF測(cè)試——電路板離子遷移測(cè)試的有效方法！貴州智能電阻測(cè)試歡迎選購(gòu)

四線法（Four-Wire Method），也被稱為Kelvin四線法或Kelvin連接法，是一種用于測(cè)量電阻的方法。廣東CAF電阻測(cè)試分析

另一方面，工藝的優(yōu)化和控制可能會(huì)遺漏一些關(guān)鍵的失效來(lái)源。其次，由于組件處于生產(chǎn)過(guò)程中，無(wú)法實(shí)時(shí)收集結(jié)果。根據(jù)測(cè)試方法的不同，測(cè)試時(shí)間**少為72小時(shí)，**多為28天，這使得測(cè)試對(duì)于過(guò)程控制來(lái)說(shuō)太長(zhǎng)了。從而促使制造商尋求能快速有效地表征電化學(xué)遷移傾向的測(cè)試方法，以控制組裝工藝。幾十年來(lái)，行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)一直認(rèn)為SIR測(cè)試是比較好的方法。然而，在實(shí)踐中，這種方法有一些局限性。首先，它是在標(biāo)準(zhǔn)梳狀測(cè)試樣板上進(jìn)行的，而不是實(shí)際的組裝產(chǎn)品。根據(jù)不同的PCB表面處理、回流工藝條件、處理工序等，需要進(jìn)行**的測(cè)試設(shè)置。而且測(cè)試方法的選擇，可能需要組裝元器件，也可能不需要。由于和助焊劑分類有關(guān)，這些因素的標(biāo)準(zhǔn)化是區(qū)分可比較的助焊劑類別的關(guān)鍵。廣東CAF電阻測(cè)試分析