在精密電子制造業(yè)的舞臺(tái)上，每一塊PCBA（印刷電路板組裝）的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展，PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升，如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物，確保電路板的長期可靠性，成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)，正是這一挑戰(zhàn)的解決方案。【深度洞察，精確監(jiān)測】廣州維柯多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn)，專為PCBA的可靠性評(píng)估而設(shè)計(jì)，它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控SIR（表面絕緣電阻）和CAF（導(dǎo)電陽極絲）的變化，精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹脂微間距、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評(píng)估。貴州離子遷移絕緣電阻測試供應(yīng)商

這種生長可能發(fā)生在外部表面、內(nèi)部界面或穿過大多數(shù)復(fù)合材料本體。增長的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經(jīng)過電沉積形成的。電沉積過程是從陽極溶解電離子，由電場運(yùn)輸重新沉積在陰極上。在電路與組裝材料發(fā)生的反應(yīng)過程中，隨著時(shí)間的推移而逐漸形成這種失效。當(dāng)金屬纖維絲在線路板表面以下生長時(shí)，稱為導(dǎo)電陽極絲或CAF，本文中不會(huì)討論這種情況，但這也是一個(gè)熱門話題。當(dāng)電化學(xué)遷移發(fā)生在線路板的表面時(shí)，它會(huì)導(dǎo)致線路之間的金屬枝晶狀生長，比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進(jìn)行測試?？煽康碾娮咏M裝產(chǎn)品必須能在不同的環(huán)境中經(jīng)受住各種影響因素的考驗(yàn)，例如：熱、機(jī)械、化學(xué)、電等因素。測試每一種考驗(yàn)因素對(duì)系統(tǒng)的影響，通常以加速老化的方式來測試。這也就是說，測試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對(duì)象主要是各種測試電化學(xué)可靠性的方法。IPC將電化學(xué)遷移定義為：在直流偏壓的影響下，印刷線路板上的導(dǎo)電金屬纖維絲的生長貴州PCB絕緣電阻測試其中作為陽極的一方發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣體向另一邊的金屬（陰極）遷移。

無論使用何種助焊劑，總會(huì)在焊接后的PCB及焊點(diǎn)上留下或多或少的殘留物，這些殘留物不僅影響PCBA的外觀，更可怕的是構(gòu)成了對(duì)PCB可靠性的潛在威脅；特別是電子產(chǎn)品長時(shí)間在高溫潮濕條件下工作時(shí)，殘留物便可能導(dǎo)致線路絕緣老化以及腐蝕等問題，進(jìn)而出現(xiàn)絕緣電阻（SIR）下降及電化學(xué)遷移（ECM）的發(fā)生。隨著電子行業(yè)無鉛化要求的***實(shí)施，相伴錫膏而生的助焊劑也走過了松香（樹脂）助焊劑、水溶性助焊劑到******使用的免洗助焊劑的發(fā)展歷程，然而其殘留物的影響始終是大家尤為關(guān)心的方面[1]-[4]。

當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí)，在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)（陰極向陽極轉(zhuǎn)移），相對(duì)的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象（類似錫須，容易造成短路），這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時(shí)，表面絕緣電阻（SIR）測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。表面絕緣電阻（SIR）測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓，經(jīng)過長時(shí)間的試驗(yàn)，觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻（SIR）測試可以用來評(píng)估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會(huì)影響電子零件電氣特性的物質(zhì)，通過表面絕緣電阻（SIR）測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。系統(tǒng)可通過曲線、表格的形式對(duì)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，測試數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)和管理。

SIR（表面絕緣電阻）測試在電子制造業(yè)中扮演著至關(guān)重要的角色，是確保產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的基石。它專注于評(píng)估印刷電路板（PCB）和其他電子組件表面的絕緣性能，防止因助焊劑殘留、污染物積累或材料老化導(dǎo)致的短路問題。通過模擬長期使用條件下的電氣性能變化，SIR測試幫助制造商識(shí)別并解決潛在的電氣故障，保障電子產(chǎn)品在各種環(huán)境下的穩(wěn)定運(yùn)行，從而提高客戶滿意度和市場競爭力。廣州維柯的SIR（表面絕緣電阻）測試測試電壓高達(dá) 2000V/5000V 可選,:1x106-1x109Ω≤±2%精度，20ms/所有通道每秒的速度。其中離子污染就是造成PCB板失效問題的一個(gè)重要原因。浙江pcb離子遷移絕緣電阻測試歡迎選購

離子污染導(dǎo)致異常的離子遷移，終導(dǎo)致產(chǎn)品失效，常見的是PCB板的腐蝕、短路等。貴州離子遷移絕緣電阻測試供應(yīng)商

廣州維柯多通道SIR-CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)——GWHR256-500，通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選)測試組數(shù)1-16組（組數(shù)可選）測試時(shí)間1-9999小時(shí)(可設(shè)置)偏置電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）測試電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）偏置電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）測試電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）電阻測量范圍1x106-1x1014Ω電阻測量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%測試間隔時(shí)間1-600分鐘（可設(shè)置）取值速度20mS/所有通道測試電壓穩(wěn)定時(shí)間1-600秒（可設(shè)置）高阻判定閥值1x106-109Ω短路保護(hù)電流閾值5–500uA數(shù)據(jù)顯示數(shù)據(jù)可曲線顯示限流電阻1MΩ電源配置配置不間斷電源UPS測試線線材特氟龍鍍銀屏蔽線（≥1014?，200℃）長度標(biāo)配3.5m操作系統(tǒng)Windows系統(tǒng)選配溫濕度監(jiān)測模塊不含windows操作系統(tǒng)，office軟件、數(shù)據(jù)庫貴州離子遷移絕緣電阻測試供應(yīng)商