電化學(xué)遷移被認為是電阻在電場與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式，會導(dǎo)致產(chǎn)品在服役期間發(fā)生漏電、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的電路板使用大約2年后其內(nèi)部電阻存在短路失效的情況。1.1機械開封機械開封后1#電阻樣品表面形貌如圖1所示，可明顯發(fā)現(xiàn)電阻表面有一層金屬光澤異物粘附，異物呈樹枝狀結(jié)晶，由一端電極往另一端電極方向生長，并連接了電阻兩端電極；一端電表表面發(fā)生溶解，且溶解的端電極表面存在黑色腐蝕產(chǎn)物。有數(shù)據(jù)統(tǒng)計90%以上的電阻在大氣環(huán)境中使用[1]，因此不可避免地受到工作環(huán)境中的溫度、濕度、灰塵顆粒及大氣污染物的影響，很容易發(fā)生電化學(xué)遷移。四線法的基本原理在于通過將電流引入被測件的兩個端點，并通過另外兩根單獨的引線在被測件的兩端測量電壓。廣西供應(yīng)電阻測試系統(tǒng)

在精密電子制造業(yè)的舞臺上，每一塊PCBA（印刷電路板組裝）的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展，PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升，如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物，確保電路板的長期可靠性，成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)，正是這一挑戰(zhàn)的解決方案?！旧疃榷床?，精確監(jiān)測】GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標準，專為PCBA的可靠性評估而設(shè)計，它能夠?qū)崟r監(jiān)控SIR（表面絕緣電阻）和CAF（導(dǎo)電陽極絲）的變化，精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。這意味著在焊劑殘留、有機酸鹽類、松香等污染物可能導(dǎo)致的電性能退化之前，該系統(tǒng)就能預(yù)警，為制造商提供寶貴的數(shù)據(jù)支持，及時調(diào)整清洗工藝，避免潛在的失效風(fēng)險。【多通道優(yōu)勢，***提升效率】區(qū)別于傳統(tǒng)單一通道的監(jiān)測設(shè)備，GWHR256系統(tǒng)具備16-256個通道的高靈活性，能夠同時監(jiān)測多組樣品，極大提高了測試效率。無論是大規(guī)模生產(chǎn)還是研發(fā)階段的小批量驗證，都能靈活應(yīng)對，滿足不同規(guī)模企業(yè)的多樣化需求。其強大的數(shù)據(jù)處理能力，支持測試時間長達9999小時，覆蓋了從短期到長期的***可靠性測試周期，為PCBA的長期性能保駕護航。廣東pcb離子遷移絕緣電阻測試歡迎選購助焊劑材料中的有機酸或無機酸及鹽等焊接后的殘留物以及經(jīng)高溫后會變成有腐蝕性的離子污染物。

線路板表面的每一種材料都有可能是電遷移產(chǎn)生的影響因素：無論是線路板材料和阻焊層、元器件的清潔度，還是制板工藝或組裝工藝產(chǎn)生的任何殘留物（包括助焊劑殘留物）。由于這種失效機制是動態(tài)變化的，理想狀況是對每種設(shè)計和裝配都進行測試。但這是不可行的。這就提出了一個問題：如何比較好地描述一個組件的電化學(xué)遷移傾向。表面電子組件的電化學(xué)遷移的發(fā)生機理取決于四個因素：銅、電壓、濕度和離子種類。當環(huán)境中的濕氣在電路板上形成水滴時，能夠與表面上的任何離子相互作用，使離子沿著電路板表面移動。離子與銅發(fā)生反應(yīng)，它們在電壓的作用下，被推動著在銅電路之間遷移。這通常被總結(jié)為一系列步驟：水吸附、陽極金屬溶解或離子生成、離子積累、離子遷移到陰極和金屬枝晶狀生長。

科技**未來，GWHR256為PCBA質(zhì)量把關(guān)》在追求零缺陷的電子制造行業(yè)中，預(yù)防總是優(yōu)于糾正。GWHR256系統(tǒng)憑借其高度智能化的設(shè)計，不僅能夠?qū)崟r監(jiān)測，還能通過自檢功能確保自身的準確性和穩(wěn)定性，為PCBA的生產(chǎn)過程加上了一道保險鎖。在系統(tǒng)內(nèi)部，先進的溫濕度監(jiān)測模塊，確保測試環(huán)境的恒定，排除外界因素對測試結(jié)果的干擾，讓每一次測試都準確可靠?！经h(huán)境適應(yīng)性強，操作便捷】考慮到實際生產(chǎn)環(huán)境的多樣性，GWHR256系統(tǒng)設(shè)計有良好的環(huán)境適應(yīng)性，能在不同溫濕度條件下穩(wěn)定工作，且配備有不間斷電源配置，保證測試連續(xù)性。其操作界面友好，數(shù)據(jù)可視化直觀，無論是曲線展示還是Excel格式導(dǎo)出，都能輕松實現(xiàn)，為工程師提供高效、便捷的測試體驗。SIR 測試:與 MTTF 類似，SIR 測試的結(jié)果可以預(yù)測材料的表面絕緣性能，進而影響 MTBF。

在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動（陰極向陽極轉(zhuǎn)移），相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象（類似錫須，容易造成短路），這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當存在這種現(xiàn)象時，表面絕緣電阻（SIR）測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。表面絕緣電阻（SIR）測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓，經(jīng)過長時間的試驗，觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻（SIR）測試可以用來評估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質(zhì)，通過表面絕緣電阻（SIR）測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。當PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時，HAST箱里經(jīng)過一定時長測試，在85h觀察時發(fā)現(xiàn)1#樣品亮燈異常；江西多功能電阻測試系統(tǒng)

SIR是通過測試表面絕緣電阻的方法來監(jiān)控ECM電化學(xué)遷移的發(fā)生程度； 通常我們習(xí)慣講的SIR，即為ECM測試；廣西供應(yīng)電阻測試系統(tǒng)

使用類似SIR測試模塊的68針LCC。這種設(shè)計有足夠的熱量，允許一個范圍內(nèi)的回流曲線。元件的高度和底部端子**了一個典型的組裝案例，其中助焊劑殘留物和其他污染物可以被截留在元件底部。在局部萃取過程中，噴嘴比組件小得多，且能滿足組件與板的高度差。局部萃取法會把板子表面所有殘留離子都溶解。電路板上離子材料的常見來源是多種多樣的，包括電路板制造和電鍍殘留物、人機交互殘留物、助焊劑殘留物等。這包括有意添加的化學(xué)物質(zhì)和無意的污染?？紤]到這一點，每當遇到不可接受的結(jié)果時，這種方法就被用來調(diào)查在過程和材料清單中發(fā)生了什么變化。在流程開發(fā)過程中，應(yīng)該定義一個“正?！钡慕Y(jié)果范圍，但是當結(jié)果超出預(yù)期范圍時，可能會有許多潛在的原因。廣西供應(yīng)電阻測試系統(tǒng)