必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作，通過分析確定失效機理，找出失效原因，反饋給設計、制造和使用，共同研究和實施糾正措施，提高電子元器件的可靠性。電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機理，確認結果的失效原因，可靠性研究的兩大內容就是失效分析和可靠性測試（包括破壞性實驗）。兩者之間是相互影響和相互制約的。電子元器件技術的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎，元器件可靠性工作的根本任務是提高元器件的可靠性。提出改進設計和制造工藝的建議，防止失效的重復出現(xiàn)，提高元器件可靠性。絕緣體表面或內部有形成電解質物質的潛在因素。包括絕緣體本身的種類，構成，添加物，纖維性能，樹脂性能。海南供應電阻測試供應商

J-STD-004B要求使用65°C，相對濕度為88.5%的箱體，并且按照方法來制備測試樣板。表面絕緣電阻要穩(wěn)定96小時以后進行測試。然后施加低電壓進行500小時的測試。測試結束時，在相同的電壓下再次測試表面絕緣電阻。除了滿足絕緣電阻值少于10倍的衰減之外，還需要觀察樣板是否有晶枝生長和腐蝕現(xiàn)象。這個測試結果可以定義助焊劑等級是L、M還是H,電化學遷移(ECM)IPC-TM-650方法用來評估表面電化學遷移的傾向性。助焊劑會涂敷在下圖1所示的標準測試板上。標準測試板是交錯梳狀設計，并模擬微電子學**小電氣間隙要求。然后按照助焊劑不同類型的要求進行加熱。為了能通過測試，高活性的助焊劑在測試前需要被清洗掉。清洗不要在密閉的空間進行。隨后帶有助焊劑殘留的樣板放置在潮濕的箱體內，以促進梳狀線路之間枝晶的生長。分別測試實驗開始和結束時的不同模塊線路的絕緣電阻值。第二次和***次測量值衰減低于10倍時，測試結果視為通過。也就是說，通常測試阻值為10XΩ，X值必須保持不變。這個方法概括了幾種不同的助焊劑和工藝測試條件。廣東離子遷移絕緣電阻測試訂做價格系統(tǒng)標配≥256通道，可分為16組測試單元，同時測試16種不同樣品。

CAF產生的原因：1、原料問題1)樹脂身純度不良，如雜質太多而招致附著力不佳；2)玻纖束之表面有問題，如耦合性不佳，親膠性不良；3)樹脂之硬化劑不良，容易吸水；4)膠片含浸中行進速度太快；常使得玻纖束中應有的膠量尚未全數充實填飽造成氣泡殘存。CAF形成過程：1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布，然后涂環(huán)氧樹脂半固化后制成；2、樹脂與玻纖之間的附著力不足，或含浸時親膠性不良，兩者之間容易出現(xiàn)間隙；3、鉆孔等機械加工過程中，由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進一步破壞；4、距離較近的兩孔若電勢不同，則正極部分銅離子在電壓驅動下逐漸向負極遷移。

CAF測試方法案例:1、保持測試樣品無污染，做好標記，用無污染手套移動樣品。做好預先準備，防止短路和開路。清潔后連接導線，連接后再清潔。烘干，在105±2℃下烘烤6小時。進行預處理，在中立環(huán)境下，保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴格控制是關鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下，一旦水凝結在測試樣品表面，有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候，也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除，確保能夠得到有意義的測試結果。雖然環(huán)境試驗箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境，其相對濕度的波動時間越短越好，不允許超過5分鐘。離子污染導致異常的離子遷移，終導致產品失效，常見的是PCB板的腐蝕、短路等。

選擇品牌的電阻測試配件可以保證其質量和售后服務。品牌通常具有豐富的經驗和技術，能夠提供高質量的產品和專業(yè)的技術支持。電阻測試配件是電子行業(yè)中不可或缺的測試工具，它的準確性和穩(wěn)定性對于電子產品的制造和維修至關重要。在選擇電阻測試配件時，需要考慮準確性、穩(wěn)定性、適用范圍和品牌信譽等因素。只有選擇合適的配件，才能保證電子產品的質量和性能。廣州維柯多通道SIR-CAF表面絕緣電阻電阻測試配件的穩(wěn)定性也是一個重要的考慮因素。穩(wěn)定的測試配件可以保證測試結果的一致性，減少誤差的發(fā)生。不同的電子產品對電阻測試配件的要求不同，因此需要根據實際需求選擇適用范圍的配件。一般來說，具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實用。選擇品牌的電阻測試配件可以保證其質量和售后服務。CAF，即導電性Anode Filament，是PCB中電解液在高濕、高溫下導致的絕緣層導電現(xiàn)象，嚴重影響電路性能。海南供應電阻測試供應商

采用特殊材料和工藝，如低CAF風險的樹脂基板，結合SIR監(jiān)測，提升PCB在惡劣環(huán)境下的可靠性和壽命。海南供應電阻測試供應商

電阻值的測定時間可設定范圍是：CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測定時間范圍1-600分鐘可設置，單次取值電阻測定電壓穩(wěn)定時間范圍1-600秒可設置，完成多次取值電阻測定時間1-9999小時可設置。電阻測試范圍1x104-1x1014Ω，電阻測量精度：1x104-1x1010Ω≤±2%，1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%廣州維柯信息技術有限公司多通道SIR/CAF實時監(jiān)控測試系統(tǒng)測量電流的設定：使用低阻SIR系統(tǒng)測樣品導通性時可以設置測量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測樣品電阻時測量電流是不用設置，需設置測量電壓，因為儀器恒壓工作測量漏電流，用歐姆定理計算電阻值。海南供應電阻測試供應商