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來源: 發(fā)布時間:2024-11-25

線路板表面的每一種材料都有可能是電遷移產(chǎn)生的影響因素:無論是線路板材料和阻焊層、元器件的清潔度,還是制板工藝或組裝工藝產(chǎn)生的任何殘留物(包括助焊劑殘留物)。由于這種失效機(jī)制是動態(tài)變化的,理想狀況是對每種設(shè)計和裝配都進(jìn)行測試。但這是不可行的。這就提出了一個問題:如何比較好地描述一個組件的電化學(xué)遷移傾向。表面電子組件的電化學(xué)遷移的發(fā)生機(jī)理取決于四個因素:銅、電壓、濕度和離子種類。當(dāng)環(huán)境中的濕氣在電路板上形成水滴時,能夠與表面上的任何離子相互作用,使離子沿著電路板表面移動。離子與銅發(fā)生反應(yīng),它們在電壓的作用下,被推動著在銅電路之間遷移。這通常被總結(jié)為一系列步驟:水吸附、陽極金屬溶解或離子生成、離子積累、離子遷移到陰極和金屬枝晶狀生長。熱敏電阻的測試需考慮其隨溫度變化的非線性特性。廣東直銷電阻測試直銷價

電阻測試

當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時,在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(陰極向陽極轉(zhuǎn)移),相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時,表面絕緣電阻(SIR)測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。表面絕緣電阻(SIR)測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,經(jīng)過長時間的試驗,觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻(SIR)測試可以用來評估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題,也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質(zhì),通過表面絕緣電阻(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。湖北電阻測試售后服務(wù)維柯CAF.TCT產(chǎn)品系列具有好的適用性和高精度的測試能力。

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電阻值的測定時間可設(shè)定范圍是:CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測定時間范圍1-600分鐘可設(shè)置,單次取值電阻測定電壓穩(wěn)定時間范圍1-600秒可設(shè)置,完成多次取值電阻測定時間1-9999小時可設(shè)置。電阻測試范圍1x104-1x1014Ω,電阻測量精度:1x104-1x1010Ω≤±2%,1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%,廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實時監(jiān)控測試系統(tǒng)測量電流的設(shè)定:使用低阻SIR系統(tǒng)測樣品導(dǎo)通性時可以設(shè)置測量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測樣品電阻時測量電流是不用設(shè)置,需設(shè)置測量電壓,因為儀器恒壓工作測量漏電流,用歐姆定理計算電阻值。

通信系統(tǒng)中的電阻測試是確保通信質(zhì)量和穩(wěn)定性的重要手段。在通信系統(tǒng)中,電阻值的變化往往會影響信號的傳輸效率和穩(wěn)定性,從而影響通信質(zhì)量。因此,定期對通信系統(tǒng)中的電阻進(jìn)行測試,可以及時發(fā)現(xiàn)并解決這些問題,確保通信系統(tǒng)的正常運行。通信系統(tǒng)中的電阻測試主要包括線路電阻測試、接口電阻測試和元件電阻測試等。線路電阻測試用于檢查通信線路的電阻值,確保線路在傳輸信號過程中的損耗控制在合理范圍內(nèi)。接口電阻測試則用于檢查通信設(shè)備之間的接口連接情況,確保接口連接良好,避免因接觸不良而引發(fā)的通信故障。元件電阻測試則用于檢查通信系統(tǒng)中的電阻元件的性能,確保電阻元件能夠正常工作,為通信系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性提供有力保障。電阻測試不僅是硬件測試的一部分,也是系統(tǒng)集成測試的重要環(huán)節(jié)。

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【SIR測試促進(jìn)綠色能源技術(shù)發(fā)展】隨著綠色能源技術(shù)的快速發(fā)展,尤其是太陽能光伏板和風(fēng)力發(fā)電系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用,SIR測試成為確保這些系統(tǒng)長期可靠性的關(guān)鍵。光伏板和風(fēng)電機(jī)組中的電子部件需要在戶外長期暴露,面臨風(fēng)雨侵蝕、溫度波動等挑戰(zhàn)。通過SIR測試,可以評估并選擇適合戶外環(huán)境的絕緣材料,減少因環(huán)境因素導(dǎo)致的性能衰退,提升能源轉(zhuǎn)換效率和設(shè)備壽命,加速清潔能源的普及和應(yīng)用。【SIR測試在醫(yī)療設(shè)備安全中的作用】醫(yī)療設(shè)備的電氣安全直接關(guān)系到患者的生命健康。SIR測試在這里發(fā)揮著不可替代的作用,確保設(shè)備中使用的絕緣材料能夠有效防止電流泄露,保護(hù)患者免受電擊風(fēng)險。特別是在手術(shù)器械、監(jiān)測設(shè)備等對電氣安全有極高要求的場合,SIR測試結(jié)果是產(chǎn)品認(rèn)證和質(zhì)量控制的重要依據(jù)。通過對醫(yī)療設(shè)備進(jìn)行定期的SIR測試,制造商能夠持續(xù)改進(jìn)設(shè)計,提升設(shè)備的安全性和可靠性,保障醫(yī)療操作的安全無虞。兩款產(chǎn)品能夠適應(yīng)更多樣化、更復(fù)雜的測試需求,特別是在需要高電壓測試的場合。SIR和CAF表面絕緣電阻測試哪家好

高精度電阻測試往往需要在恒溫條件下進(jìn)行,以減少誤差。廣東直銷電阻測試直銷價

電子元器件篩選的目的:剔除早期失效產(chǎn)品。提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。元器件篩選的特點:篩選試驗為非破壞性試驗。不改變元器件固有失效機(jī)理和固有可靠性。對批次產(chǎn)品進(jìn)行*篩選。篩選等級由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。電子元器件篩選常規(guī)測試項目:檢查篩選:顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、 X射線非破壞性檢查。密封性篩選:液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示 蹤檢漏、濕度試驗、顆粒碰撞噪聲檢測。環(huán)境應(yīng)?篩選:高低溫貯存、高溫反偏、振動、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應(yīng)?、動態(tài)老煉。 電子元器件篩選覆蓋范圍:半導(dǎo)體集成電路:時基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動器、電平轉(zhuǎn)換器、門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類芯片(穩(wěn)壓器、開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等)、致模轉(zhuǎn)換器(A/D、D/A、SRD)、存儲器、可編程邏輯器件、單片機(jī)、微處理器、控制器等;廣東直銷電阻測試直銷價