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廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試市場(chǎng)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-12-19

當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí),在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場(chǎng)和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)(陰極向陽(yáng)極轉(zhuǎn)移),相對(duì)的電極還原成本來(lái)的金屬并析出樹(shù)枝狀金屬的現(xiàn)象(類(lèi)似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱(chēng)為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時(shí),表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試可以通過(guò)電阻值顯現(xiàn)出來(lái)。測(cè)試方法通常是認(rèn)證助焊劑在裸銅板上的表現(xiàn),但是NiAu和HASL工藝的殘留物對(duì)PCB表面的漏電有一定影響。HASL工藝使用的助焊劑中的乙二醇會(huì)被環(huán)氧基板編織布所吸收,增強(qiáng)基板的吸水性。己經(jīng)有一些案例說(shuō)明NiAu的金屬層會(huì)增電化學(xué)遷移的趨勢(shì)。表面涂層的影響取決于表面涂層所用的助焊劑和化學(xué)劑。離子污染導(dǎo)致異常的離子遷移,終導(dǎo)致產(chǎn)品失效,最常見(jiàn)的是PCB板的腐蝕、短路等。廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試市場(chǎng)

電阻測(cè)試

在智能制造的生產(chǎn)線(xiàn)上,電阻測(cè)試被廣泛應(yīng)用于電子元件和組件的篩選和測(cè)試。通過(guò)測(cè)量電阻值,可以判斷元件的性能和可靠性,從而篩選出符合要求的元件用于后續(xù)的生產(chǎn)和組裝。這不僅可以提高產(chǎn)品的整體性能和質(zhì)量,還可以降低生產(chǎn)成本和維修成本。此外,在智能制造的故障診斷和預(yù)測(cè)維護(hù)中,電阻測(cè)試也發(fā)揮著重要作用。通過(guò)監(jiān)測(cè)關(guān)鍵設(shè)備的電阻值變化,可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的故障和隱患,為設(shè)備的維護(hù)和更換提供數(shù)據(jù)支持。這不僅可以避免設(shè)備故障導(dǎo)致的生產(chǎn)中斷和安全事故,還可以延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命和降低維護(hù)成本。廣東離子遷移絕緣電阻測(cè)試直銷(xiāo)價(jià)在電路板上進(jìn)行電阻測(cè)試時(shí),需小心操作,避免短路相鄰元件。

廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試市場(chǎng),電阻測(cè)試

電化學(xué)遷移被認(rèn)為是電阻在電場(chǎng)與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式,會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品在服役期間發(fā)生漏電、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的電路板使用大約2年后其內(nèi)部電阻存在短路失效的情況。1.1機(jī)械開(kāi)封機(jī)械開(kāi)封后1#電阻樣品表面形貌如圖1所示,可明顯發(fā)現(xiàn)電阻表面有一層金屬光澤異物粘附,異物呈樹(shù)枝狀結(jié)晶,由一端電極往另一端電極方向生長(zhǎng),并連接了電阻兩端電極;一端電表表面發(fā)生溶解,且溶解的端電極表面存在黑色腐蝕產(chǎn)物。有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)90%以上的電阻在大氣環(huán)境中使用[1],因此不可避免地受到工作環(huán)境中的溫度、濕度、灰塵顆粒及大氣污染物的影響,很容易發(fā)生電化學(xué)遷移。

PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來(lái)越嚴(yán)重,究其原因,是因?yàn)楝F(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來(lái)越多,這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來(lái)越短,這樣就更加容易在兩個(gè)金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象,什么是導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試CAF導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試(Conductiveanodicfilamenttest,簡(jiǎn)稱(chēng)CAF)是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹(shù)狀生長(zhǎng)的區(qū)別:1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅,而不是鉛或者錫;2.金屬絲是從陽(yáng)極往陰極生長(zhǎng)的;3.金屬絲是由金屬鹽組成,而不是中性的金屬原子組成。焊盤(pán)中的銅金屬是金屬離子的主要來(lái)源,在陽(yáng)極電化學(xué)生成,并沿著樹(shù)脂和玻璃增強(qiáng)纖維之間界面移動(dòng)。隨著時(shí)代發(fā)展和技術(shù)的革新。高阻值電阻測(cè)試時(shí),需特別注意靜電防護(hù),避免損壞元件。

廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試市場(chǎng),電阻測(cè)試

電阻測(cè)試技術(shù)也將向智能化和自動(dòng)化的方向發(fā)展?,F(xiàn)代電阻測(cè)試設(shè)備已經(jīng)具備了一定的智能化和自動(dòng)化功能,但仍有很大的提升空間。未來(lái),電阻測(cè)試設(shè)備將更加智能化,能夠自動(dòng)識(shí)別和測(cè)試不同類(lèi)型的電阻元件,自動(dòng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)和測(cè)試方法,提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。此外,電阻測(cè)試設(shè)備還將實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程監(jiān)控和數(shù)據(jù)分析功能,為測(cè)試數(shù)據(jù)的處理和分析提供更加便捷和高效的手段。另外,隨著新材料和新技術(shù)的不斷涌現(xiàn),電阻測(cè)試技術(shù)也將不斷創(chuàng)新和升級(jí)。例如,納米材料、石墨烯等新型材料的應(yīng)用將為電阻測(cè)試技術(shù)帶來(lái)新的挑戰(zhàn)和機(jī)遇。同時(shí),人工智能、大數(shù)據(jù)等新技術(shù)的發(fā)展也將為電阻測(cè)試技術(shù)的智能化和自動(dòng)化提供更加有力的支持。CAF,即導(dǎo)電性Anode Filament,是PCB中電解液在高濕、高溫下導(dǎo)致的絕緣層導(dǎo)電現(xiàn)象,嚴(yán)重影響電路性能。廣東表面絕緣SIR電阻測(cè)試市場(chǎng)

電阻測(cè)試前應(yīng)檢查被測(cè)元件是否完好,無(wú)物理?yè)p傷或腐蝕。廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試市場(chǎng)

電阻箱是一種可以調(diào)節(jié)電阻值的測(cè)試儀器。它通常由多個(gè)電阻組成,通過(guò)選擇不同的電阻值來(lái)模擬不同的電路條件。電阻箱廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品的調(diào)試和測(cè)試過(guò)程中,可以幫助工程師快速定位和解決電路中的問(wèn)題。在電子產(chǎn)品的制造和維修過(guò)程中,電阻測(cè)試配件起著至關(guān)重要的作用。電阻測(cè)試配件通過(guò)測(cè)量電路中的電阻值來(lái)判斷電路的工作狀態(tài)。電阻是電子元器件中基本的一種,它的作用是限制電流的流動(dòng),控制電路的工作狀態(tài)。電阻的大小決定了電流的大小,從而影響整個(gè)電路的性能。因此,電阻測(cè)試配件的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對(duì)于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試市場(chǎng)