x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測量由此引起的電子動能的分布早在本世紀初就有報道，但當時可達到的分辯率還不足以觀測到光電子能譜上的實際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個瑞典研究小組觀測到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學狀態(tài)，故而取名“化學分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認為是同義詞而不再加以區(qū)別。粉末衍射可解決的任何問題或可求得的任何結(jié)構(gòu)參數(shù)一般都是以這三個物理量為基礎(chǔ)的。安徽奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀廠家

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會產(chǎn)生二次熒光X射線（標識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度（峰強度）可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關(guān)系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。奧林巴斯XRD批發(fā)單晶射線衍射儀主要用于單晶樣品晶胞參數(shù)，單晶結(jié)構(gòu)測定 ，包括孿晶的有機。

X射線衍射擴展資料：晶態(tài)物質(zhì)對X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象，即入射光束出射時光束沒有被發(fā)散但方向被改變了而其波長保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)特有的現(xiàn)象。絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準晶態(tài)物質(zhì)，都能產(chǎn)生X射線衍射。晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖,因此，通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過對樣品衍射強度數(shù)據(jù)的分析計算，可以完成樣品物相組成的定量分析。

不同的靶，其X射線特征波長不同，根據(jù)布拉格方程2dsinθ=nλ，某一間距為d的晶面族其衍射角將不同,各間距值的晶面族的衍射角將表現(xiàn)出有規(guī)律的改變。因此，使用不同靶材的X射線管所得到的衍射圖上的衍射峰的位置是不相同的，衍射峰位置的變化是有規(guī)律的。（每種晶體結(jié)構(gòu)的晶面間距d是固定的，與何種靶材X射線管無關(guān)）衍射圖上衍射峰間的相對強度主要決定于晶體的結(jié)構(gòu)，但是由于樣品的吸收性質(zhì)也和入射線的波長有關(guān)。因此同一樣品用不同靶所取得的圖譜上衍射峰間的相對強度會稍有差別，與靶材有關(guān)。一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉。

X射線粉末衍射儀的注意點：影響衍射環(huán)質(zhì)量的主要因素是樣品的取樣性偏差，即晶體的晶癖特征導致某些方向被過度衍射，而其他方向衍射不足；用通俗語言描述即，片狀晶體在測量盤中呈現(xiàn)“躺著/睡著的姿勢”，衍射角集中于水平角度，而在縱向上有所欠缺。此類晶體通?？审w現(xiàn)出過篩前后或粉碎前后XRPD圖譜不同，而其實際晶型并未發(fā)生變化。因此，針對不同合成工藝所得原料，應(yīng)先通過顯微鏡觀察其晶癖，再測定粉碎或過篩前后XRPD，避免發(fā)生過篩導致晶型變化的錯誤判斷。此外，在晶型特征峰分析時，更關(guān)注低角度的峰，因其表示了間距較大的晶面，其衍射峰受干擾的概率較低?？傊?，判斷不同多晶型的XRPD圖譜，其是否為同一晶型，XRPD中峰的θ角是主要依據(jù)，因其角度大小反應(yīng)的是單元晶格大??；而峰相對強度取決于晶體中的原子種類及其分布位置。如所測圖譜質(zhì)量不高，則相對峰強度差異通常不應(yīng)成為晶型不同的判斷依據(jù)。單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu)。安徽奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀批發(fā)廠家

X射線衍射儀既可以單屏控制面板現(xiàn)實多種數(shù)據(jù)，還能預先設(shè)置校準程序，并且輕松導出數(shù)據(jù)。安徽奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀廠家

在研究行星進程和地球構(gòu)造過程中，地理學家們需要分析巖石和礦物樣品的組成。X射線衍射儀分析技術(shù)如：小點激發(fā)，分布分析和無標定量分析，日漸成為地質(zhì)研究及礦物學研究領(lǐng)域內(nèi)的主要儀器。X射線衍射儀（XRD）可定量測量相組成。X射線衍射數(shù)據(jù)的Rietveld分析被認為是晶體相定量分析很適合的方法。專業(yè)技術(shù)和經(jīng)驗為這些判定提供了一系列解決方案。鑄造廠，冶煉廠和鋼廠還有金屬行業(yè)的其他方面都是連續(xù)生產(chǎn)并要求日夜控制生產(chǎn)和進料出料的質(zhì)量。合金的化學含量，殘余應(yīng)力是與結(jié)構(gòu)失效相關(guān)的重要特征。X射線衍射儀是無損精確測量殘余應(yīng)力的方法。X射線衍射具有的空間分辨率和測量硬化材料的能力提供了非接觸式測量。為了滿足分析任務(wù)的各種苛刻要求，系列儀器為各種預算和需要提供靈活組合方式和樣品處理方式。安徽奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀廠家