奧林巴斯合金分析儀采用X射線熒光(XRF)技術(shù),這是一種獲得材料元素組成的技術(shù)。只需少量的樣品制備,您就可以在1秒鐘內(nèi)獲得某些合金的結(jié)果,或在60秒鐘內(nèi)獲得某些地質(zhì)樣品的結(jié)果。并且XRF是無(wú)損的。那么什么奧林巴斯合金分析儀更好用?該款合金分析儀是一個(gè)堅(jiān)固的工具,它必須經(jīng)受住在惡劣環(huán)境中正常工作的嚴(yán)酷考驗(yàn)。分析儀經(jīng)受住了4英尺跌落試驗(yàn),可在-10°C至50°C(14°F至122°F)的溫度范圍內(nèi)連續(xù)運(yùn)行。我們對(duì)分析儀的堅(jiān)固性很有信心,每臺(tái)都有標(biāo)準(zhǔn)的3年保修期。另外三個(gè)重要的進(jìn)步是:1、為分析儀供電的Axon技術(shù);2、開(kāi)發(fā)了一個(gè)新的“類似智能手機(jī)”的用戶界面;3、可選的無(wú)線連接。合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素， 同時(shí)將其量化。廣西貴金屬分析儀推薦
當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時(shí)，如果其能量大于或等于原子某軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，對(duì)應(yīng)的形成一個(gè)空穴，使原子處于激發(fā)狀態(tài)。K層電子被擊出稱為K激發(fā)態(tài)，同樣L層電子被擊出稱為L(zhǎng)激發(fā)態(tài)。此后在很短時(shí)間內(nèi)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài)，以降低原子能級(jí)。當(dāng)空穴產(chǎn)生在K層，不同外層的電子(L、M、N...層)向空穴躍遷時(shí)放出的能量各不相同，產(chǎn)生的一-系列輻射統(tǒng)稱為K系輻射。同樣，當(dāng)空穴產(chǎn)生在L層，所產(chǎn)生一系列輻射則統(tǒng)稱為L(zhǎng)系輻射。當(dāng)較外層的電子躍遷(符合量子力學(xué)理論)至內(nèi)層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產(chǎn)生了X熒光。X熒光的能量與入射的能量無(wú)關(guān)，它只等于原子兩能級(jí)之間的能量差。由于能量差完全由該元素原子的殼層電子能級(jí)決定；故稱之為該元素的特征X射線，也稱熒光X射線或X熒光。內(nèi)蒙古分析儀生產(chǎn)奧林巴斯Vanta Element分析儀使用雙核處理器。
XRF分析儀如何測(cè)量涂層厚度： 準(zhǔn)確的厚度測(cè)量結(jié)果有助于制造商提供質(zhì)量上乘的產(chǎn)品，同時(shí)還可以控制成本。涂層的厚度應(yīng)該恰到好處；產(chǎn)品的涂層太厚會(huì)增加制造成本?？蛻魧?duì)來(lái)料進(jìn)行質(zhì)量控制時(shí)，也會(huì)對(duì)涂層進(jìn)行檢測(cè)：確保所接收來(lái)料使用的是正確的涂層材料，且涂層的厚度準(zhǔn)確無(wú)誤。 取決于不同的材料，奧林巴斯Vanta手持式XRF分析儀可以測(cè)量范圍從0.00到約60.00微米的涂層厚度。分析儀發(fā)出X射線，X射線撞擊到被測(cè)樣本，使樣本發(fā)出熒光。分析儀探測(cè)到返回的X射線，并使用獲得的數(shù)據(jù)計(jì)算涂層的厚度。 根據(jù)國(guó)際材料工程師和科學(xué)家協(xié)會(huì)（ASM）的防腐和防磨表面工程要求，屬于這個(gè)范圍的各種表面工程技術(shù)包括電鍍（機(jī)械、化學(xué)、電解）、蒸發(fā)（化學(xué)和物理沉積）和粘合（樹(shù)脂或漆料）。
XRF分析儀作為精密元素分析儀器之一，功能十分強(qiáng)大，測(cè)試范圍從Na(11)到U(92)，其被普遍應(yīng)用于工業(yè)、航天、環(huán)保、農(nóng)業(yè)等領(lǐng)域。XRF元素分析儀具有諸多優(yōu)點(diǎn)，包括操作便捷、樣品無(wú)損檢測(cè)、測(cè)試樣品可以是任何形狀等等。日常使用中，XRF分析儀在分析元素時(shí)，經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)同一個(gè)樣品檢測(cè)的精度不一樣的現(xiàn)象，多數(shù)操作者多一位是儀器出現(xiàn)故障。其實(shí)不然，那么XRF這款精度儀器在使用過(guò)程中，會(huì)受到那些因素的影響而導(dǎo)致結(jié)果出現(xiàn)偏差。一般來(lái)說(shuō)，檢測(cè)的時(shí)間越長(zhǎng)，精度就越精確，ROHS分析儀30~600秒；合金分析儀10~60秒；礦石分析儀：30~90秒。 若您是在廢品堆場(chǎng)中分揀合金和金屬，您所需要的基本工具都會(huì)是一款手持式X射線熒光（XRF）分析儀。
XRF：X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí)X射線叫X射線熒光（X-Ray Fluorescence），而把用來(lái)照射的X射線叫原級(jí)X射線。所以X射線熒光仍是X射線。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí) X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理，理論上可以測(cè)量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實(shí)際應(yīng)用中，有效的元素測(cè)量范圍可以從12號(hào)元素（Mg）到92號(hào)元素（U）。材料可靠性鑒別(PMI)在金屬制造、石化生產(chǎn)以及消費(fèi)產(chǎn)品中起到重要作用。福建貴金屬分析儀哪家好
在XRF分析儀的分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來(lái)的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。廣西貴金屬分析儀推薦
無(wú)論您是在廢品堆場(chǎng)中分揀合金和金屬，還是在質(zhì)量控制過(guò)程中對(duì)來(lái)料進(jìn)行檢查，您所需要的基本工具都會(huì)是一款手持式X射線熒光（XRF）分析儀。XRF技術(shù)可以無(wú)損方式快速辨別合金的牌號(hào)及金屬的元素成分。在選擇一種高性價(jià)比的手持式XRF分析儀時(shí)，我們需要考慮多種因素以及分析儀的特性。 以下所述是我們需要考慮的分析儀幾個(gè)基本特性。 1. 檢測(cè)迅速 迅速獲得結(jié)果意味著快速獲得投資回報(bào)。我們的Vanta 手持式XRF分析儀不僅具有很高的性價(jià)比，而且還具有可以在1到2秒鐘的短暫時(shí)間內(nèi)辨別合號(hào)的強(qiáng)大性能。 2. 堅(jiān)固耐用 在惡劣工業(yè)環(huán)境中進(jìn)行的要求嚴(yán)苛的應(yīng)用，需要分析儀具有堅(jiān)固耐用的特性。Vanta 分析儀符合IP54評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，具有防塵和防潮的特性，而且通過(guò)了從4英尺高處墜落的測(cè)試（MIL-STD-810G），從而有助于確保在分析儀發(fā)生意外墜落或撞擊時(shí)可以繼續(xù)工作。無(wú)論在高溫還是寒冷的環(huán)境中工作，只要溫度在-10 °C到45 °C的范圍內(nèi)，Vanta分析儀就會(huì)不負(fù)眾望、連續(xù)操作。廣西貴金屬分析儀推薦