衍射儀中XRD采用單色X射線為衍射源，一般可以穿透固體，從而驗(yàn)證其內(nèi)部結(jié)構(gòu)，因此XRD給出的是材料的體相結(jié)構(gòu)信息。XRD多以定性物相分析為主，但也可以進(jìn)行定量分析。通過(guò)待測(cè)樣品的X射線衍射譜圖與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的X射線衍射譜圖進(jìn)行對(duì)比,可以定性分析樣品的物相組成;通過(guò)對(duì)樣品衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)的分析計(jì)算,可以完成樣品物相組成的定量分析.根據(jù)XRD譜圖信息，可以確定樣品是無(wú)定型還是晶體：無(wú)定型樣品為大包峰，沒(méi)有精細(xì)譜峰結(jié)構(gòu)；晶體則有豐富的譜線特征。把樣品中很強(qiáng)峰的強(qiáng)度和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的進(jìn)行對(duì)比，可以定性知道樣品的結(jié)晶度。當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。徐州衍射儀代理商價(jià)格

描述X射線衍射條件，還可以用布拉格方程： 2dsinθ＝nλ式中d為相鄰兩個(gè)晶面之間的距離；θ為入射線或反射線與晶面的交角；λ為X射線波長(zhǎng)；n為正整數(shù)。布拉格方程與勞厄方程雖然表達(dá)方式不同，但其實(shí)質(zhì)是相同的。 當(dāng) X射線的波長(zhǎng)與入射線方向以及晶體方位確定以后，勞厄方程中的λ、、b、c、0、β0、γ0 都已確定，只有、β、γ是變量，它們必須滿足勞厄方程，但是，、β、γ3個(gè)變量不是單獨(dú)的，例如在直角坐標(biāo)中應(yīng)滿足： cos2＋cos2β＋cos2γ＝1這就是說(shuō)，3個(gè)變量、β、γ應(yīng)同時(shí)滿足4個(gè)方程，這在一般條件下是不可能的，因而得不到衍射圖。為了解決這個(gè)問(wèn)題，必須再增加一個(gè)變數(shù)，有兩種辦法可供選擇：①晶體不動(dòng)（0、β0、γ0固定），改變波長(zhǎng)λ，即采用白色X射線，這種方法稱為勞厄法；②波長(zhǎng)不變，即用單色X射線 ，讓晶體繞某晶軸轉(zhuǎn)動(dòng)，即改變0、β0、γ0 。這樣可在某些特定的晶體方位得到衍射圖，這種方法叫做轉(zhuǎn)動(dòng)晶體法。以上兩種方法都是對(duì)單晶體而言的。如果晶體是多晶，每個(gè)小單晶體在空間的取向是隨機(jī)的，勞厄方程總可以得到滿足，這就是粉末法的基礎(chǔ)。浙江奧林巴斯XRD批發(fā)哪家好衍射儀的型號(hào)種類(lèi)。歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán)！

X射線衍射分析可以獲得哪些實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)?通常做的是粉末衍射，可以得到樣品在不同角度的衍射強(qiáng)度，也就是兩列數(shù)據(jù)，一列是角度，一列是強(qiáng)度，對(duì)比已有的衍射譜的卡片，從而知道材料中是有哪些相存在。如果材料中有未知的相，也可以通過(guò)XRD確定其結(jié)構(gòu)。先對(duì)其做指標(biāo)化，確定了hkl，同時(shí)還能把晶體結(jié)構(gòu)定下來(lái)，還有就是定晶格參數(shù)。如果你還要做進(jìn)一步的分析，你可以做結(jié)構(gòu)精修，從而確定不同原子在晶格內(nèi)的位置，鍵長(zhǎng)鍵角什么的。如果技術(shù)好，還可以得到材料中的應(yīng)力，溫度因子，晶格取向等信息。

衍射儀中特征X射線是一種波長(zhǎng)很短（20～0.06nm）的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中，包含與靶中各種元素對(duì)應(yīng)的具有特定波長(zhǎng)的X射線，稱為特征（或標(biāo)識(shí)）X射線。考慮到X射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子間的距離相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光，即當(dāng)一束X射線通過(guò)晶體時(shí)將發(fā)生衍射，衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。衍射儀是進(jìn)行X射線衍射實(shí)驗(yàn)所不可缺少的、重要的設(shè)備之一。

X射線衍射分析的應(yīng)用實(shí)例： 1、金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個(gè)平面，面積不小于10X10毫米，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。 2、對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常。因此要求測(cè)試時(shí)合 理選擇響應(yīng)的方向平面。 3、對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測(cè)量殘余奧氏體，要求樣品不能簡(jiǎn)單粗磨，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。 4、粉末樣品要求磨成320目的粒度，約40微米。粒度粗大衍射強(qiáng)度低，峰形不好，分辨率低。要了解樣品的物理化學(xué)性質(zhì)，如是否易燃，易潮解，易腐蝕、有毒、易揮發(fā)。 5、粉末樣品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。衍射儀除了基本功能外，可快速配置各種附件，具有很強(qiáng)的分析能力。溫州衍射儀生產(chǎn)廠家

很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。徐州衍射儀代理商價(jià)格

多晶X射線衍射儀，也稱粉末衍射儀，通常用于測(cè)量粉末、多晶體金屬或者高聚物塊體材料等。主要由四個(gè)部分構(gòu)成：X射線發(fā)生器(產(chǎn)生X射線的裝置);測(cè)角儀(測(cè)量角度2θ的裝置);X射線探測(cè)器(測(cè)量X射線強(qiáng)度的計(jì)數(shù)裝置);X射線系統(tǒng)控制裝置(數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和各種電氣系統(tǒng)、保護(hù)系統(tǒng)等).測(cè)角儀（包括狹縫系統(tǒng)）、探測(cè)器等都是X射線衍射儀中非常關(guān)鍵的組成部分，不過(guò)原理較為枯燥，而實(shí)際處理數(shù)據(jù)時(shí)基本不會(huì)用到。x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。徐州衍射儀代理商價(jià)格

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