X射線熒光光譜儀的原理是什么？ X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。 近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種普遍應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也普遍。 　　大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。選擇衍射儀應(yīng)該注意什么？上海澤權(quán)告訴您。上海奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD價(jià)格

X射線單晶體衍儀器基本公式： 由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點(diǎn)陣表示。而一個(gè)三維點(diǎn)陣可簡(jiǎn)單地用一個(gè)由八個(gè)相鄰點(diǎn)構(gòu)成的平行六面體（稱(chēng)晶胞）在三維方向重復(fù)得到。一個(gè)晶胞形狀由它的三個(gè)邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α，β）所規(guī)定，這六個(gè)參數(shù)稱(chēng)點(diǎn)陣參數(shù)或晶胞參數(shù)。這樣一個(gè)三維點(diǎn)陣也可以看成是許多相同的平面點(diǎn)陣平行等距排列而成的，這樣一族平面點(diǎn)陣稱(chēng)為一個(gè)平面點(diǎn)陣族，常用符號(hào)HKL（HKL為整數(shù)）來(lái)表示。一個(gè)三維空間點(diǎn)陣劃分為平面點(diǎn)陣族的方式是很多的，其平面點(diǎn)陣的構(gòu)造和面間距d可以是不同的。晶體結(jié)構(gòu)的周期性就可以由這一組dHKL來(lái)表示。寧波衍射儀批發(fā)市場(chǎng)衍射儀的規(guī)格介紹。歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán)！

測(cè)角儀是X射線衍射儀的中心部件，主要由光闌、發(fā)散狹縫、接收狹縫、防散射狹縫、樣品座及閃爍探測(cè)器等組成。衍射儀中常用的探測(cè)器是閃爍計(jì)數(shù)器，它是利用X射線能在某些固體物質(zhì)（磷光體）中產(chǎn)生的波長(zhǎng)在可見(jiàn)光范圍內(nèi)的熒光，這種熒光再轉(zhuǎn)換為能夠測(cè)量的電流。由于輸出的電流和計(jì)數(shù)器吸收的X光子能量成正比，因此可以用來(lái)測(cè)量衍射線的強(qiáng)度。衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)掃描操作完成后，衍射原始數(shù)據(jù)自動(dòng)存入計(jì)算機(jī)硬盤(pán)中供數(shù)據(jù)分析處理。數(shù)據(jù)分析處理包括平滑點(diǎn)的選擇、背底扣除、自動(dòng)尋峰、d值計(jì)算、衍射峰強(qiáng)度計(jì)算等。

輻射波長(zhǎng)對(duì)衍射峰強(qiáng)的關(guān)系是：衍射峰強(qiáng)主要取決于晶體結(jié)構(gòu)，但是樣品的質(zhì)量吸收系數(shù)（MAC）與入射線的波長(zhǎng)有關(guān)，因此同一樣品用不同耙獲得的圖譜上的衍射峰強(qiáng)度會(huì)有稍微的差別。特別是混合物，各相之間的MAC都隨所選波長(zhǎng)而變化，波長(zhǎng)選擇不當(dāng)很可能造成XRD定量結(jié)果不準(zhǔn)確。因?yàn)椴煌豈AC突變擁有不同的波長(zhǎng)，該波長(zhǎng)就稱(chēng)為材料的吸收限，若超過(guò)了這個(gè)范圍就會(huì)出現(xiàn)強(qiáng)的熒光散射。X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時(shí)，會(huì)受到晶體中原子的散射，而散射波就像從原子中心發(fā)出，每個(gè)原子中心發(fā)出的散射波類(lèi)似于源球面波。X射線單晶體衍儀器分析的對(duì)象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。

X射線衍射法，對(duì)樣品測(cè)試收費(fèi)要遠(yuǎn)高于紅外光譜的。如果你是單純想測(cè)量薄膜的精確厚度，可以用紅外光譜法（IR),精確度可達(dá)cm^(-1)量級(jí)。在紅外光譜范圍內(nèi)，1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的內(nèi)外層表面的反射光達(dá)到一定相位差時(shí)會(huì)引起干涉，通過(guò)薄膜兩個(gè)表面對(duì)紅外線的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋。干涉條紋有三四十個(gè)波峰-波谷之多，分布在一定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)；根據(jù)測(cè)定結(jié)果，利用公式計(jì)算出薄膜的厚度。該方法操作簡(jiǎn)便,測(cè)定速度快,應(yīng)用于實(shí)際樣品的無(wú)損測(cè)定,結(jié)果滿意。 上海的衍射儀服務(wù)廠家。歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán)！江蘇奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀批發(fā)市場(chǎng)

x射線粉末衍射可以判斷是何種晶體物質(zhì)。上海奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD價(jià)格

X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。上海奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD價(jià)格