X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì)產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識(shí)X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測(cè)定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測(cè)定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測(cè)定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測(cè)?！癤射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶體衍射儀"。安徽奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD公司有哪些

x射線有哪些特點(diǎn)？各種衍射方法有何不同 1、穿透作用。X射線因其波長(zhǎng)短，能量大，照在物質(zhì)上時(shí)，只一部分被物質(zhì)所吸收，大部分經(jīng)由原子間隙而透過，表現(xiàn)出很強(qiáng)的穿透能力。X射線穿透物質(zhì)的能力與X射線光子的能量有關(guān)，X射線的波長(zhǎng)越短，光子的能量越大，穿透力越強(qiáng)。X射線的穿透力也與物質(zhì)密度有關(guān)，利用差別吸收這種性質(zhì)可以把密度不同的物質(zhì)區(qū)分開來。 2、電離作用。物質(zhì)受X射線照射時(shí)，可使核外電子脫離原子軌道產(chǎn)生電離。利用電離電荷的多少可測(cè)定X射線的照射量，根據(jù)這個(gè)原理制成了X射線測(cè)量?jī)x器。在電離作用下，氣體能夠?qū)щ?；某些物質(zhì)可以發(fā)生化學(xué)反應(yīng)；在有機(jī)體內(nèi)可以誘發(fā)各種生物效應(yīng)。 3、熒光作用。X射線波長(zhǎng)很短不可見，但它照射到某些化合物如磷、鉑鋇、硫化鋅鎘、鎢酸鈣等時(shí)，可使物質(zhì)發(fā)生熒光（可見光或紫外線），熒光的強(qiáng)弱與X射線量成正比。這種作用是X射線應(yīng)用于穿視的基礎(chǔ)，利用這種熒光作用可制成熒光屏，用作穿視時(shí)觀察X射線通過人體組織的影像，也可制成增感屏，用作攝影時(shí)增強(qiáng)膠片的感光量。浙江奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD代理公司有哪些x射線具有很強(qiáng)的穿透力，醫(yī)學(xué)上常用作檢查，工業(yè)中用來探傷。

X射線衍射的方法有很多。 按使用的樣品可分為：?jiǎn)尉Хê投嗑Х勰┓ǎ?按記錄檢測(cè)方法可分有：照相法和衍射譜儀（計(jì)算器）法。 基本的X射線衍射方法有三種：平板照相法、旋晶法和多晶粉末法。 1、平板照相法（平面底片法） 2、園筒底片法（又叫回轉(zhuǎn)照相法或旋晶法） （1）、回轉(zhuǎn)照相法 （2）、魏森堡（Weissenberg）照相法 （3）、多晶粉末德拜-謝樂照相法 （4）、多晶粉末衍射儀法 （5）、其它X射線衍射儀 a、計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制的四圓單晶衍射儀 b、轉(zhuǎn)靶X射線衍射儀 c、面探測(cè)器X射線衍射儀 d、同步輻射衍射分析。

當(dāng)x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點(diǎn)陣晶格間距為d的晶面上時(shí),在符合上式的條件下，將在反射方向上得到因疊加而加強(qiáng)的衍射線。布拉格方程簡(jiǎn)潔直觀地表達(dá)了衍射所必須滿足的條件。當(dāng) x射線波長(zhǎng)λ已知時(shí)(選用固定波長(zhǎng)的特征x射線)，采用細(xì)粉末或細(xì)粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中，從每一θ角符合布拉格方程條件的反射面得到反射,測(cè)出θ后，利用布拉格方程即可確定點(diǎn)陣晶面間距、晶胞大小和類型;根據(jù)衍射線的強(qiáng)度,還可進(jìn)一步確定晶胞內(nèi)原子的排布。這便是x射線結(jié)構(gòu)分析中的粉末法或德拜-謝樂(debye—scherrer)法的理論基礎(chǔ)。而在測(cè)定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動(dòng)（即θ不變）,以輻射束的波長(zhǎng)作為變量來保證晶體中一切晶面都滿足布拉格方程的條件,故選用連續(xù)x射線束。如果利用結(jié)構(gòu)已知的晶體，則在測(cè)定出衍射線的方向θ后,便可計(jì)算x射線的波長(zhǎng)，從而判定產(chǎn)生特征x射線的元素。這便是x射線譜術(shù),可用于分析金屬和合金的成分。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。

衍射儀： x射線發(fā)生器 探測(cè)器 1衍射儀進(jìn)展 衍射儀的進(jìn)展主要在三個(gè)方面： 1、X 射線發(fā)生器，2、探測(cè)器，3、衍射幾何與光路。 x射線發(fā)生器 X射線發(fā)生器是進(jìn)行X射線衍射實(shí)驗(yàn)所不可缺少的、重要的設(shè)備之一，其優(yōu)劣會(huì)嚴(yán)重影響X射線衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量。 探測(cè)器 探測(cè)器是用來記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設(shè)備中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射線會(huì)透過而不被吸收；它的計(jì)數(shù)線性范圍不大，強(qiáng)衍射不易測(cè)準(zhǔn)；而且，還會(huì)起“霧”；又由于要有暗室用化學(xué)法進(jìn)行顯影、定影、沖洗、曬干等一套繁瑣的過程，因此被性能更好的光子計(jì)數(shù)器所取代。計(jì)數(shù)器探測(cè)器不需化學(xué)處理，可以通過電子電路直接記錄衍射的光子數(shù)，方便了許多。初的計(jì)數(shù)器是蓋格計(jì)數(shù)器，但由于它的時(shí)間分辨率不高，計(jì)數(shù)的線性范圍不大，故不是一個(gè)良好的探測(cè)器。以后，正比計(jì)數(shù)器及閃爍計(jì)數(shù)器取代了蓋格計(jì)數(shù)器，成為普遍使用的探測(cè)器。隨著人類對(duì)自然的認(rèn)識(shí)越來越廣，越來越深，對(duì)實(shí)驗(yàn)的要求也越來越高，越多樣化，簡(jiǎn)單的正比或閃爍計(jì)數(shù)器亦不 能滿足不同的實(shí)驗(yàn)要求，于是又陸續(xù)發(fā)展出許多不同的探測(cè)器。衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的，是常規(guī)分析與特殊目的測(cè)量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。金華衍射儀銷售代理

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使用粉末多晶衍射儀測(cè)量單晶體樣品時(shí)得到的X射線衍射譜，相對(duì)于與所測(cè)單晶體同種類的多晶樣品的X射線衍射譜來說，它的譜圖特征可能是：衍射峰數(shù)量可能會(huì)變少，峰強(qiáng)度會(huì)有變化:有的會(huì)變強(qiáng)、有的會(huì)變?nèi)酰蝗绻麥y(cè)試時(shí)單晶樣品不旋轉(zhuǎn)，有些峰可能就根本不出現(xiàn)，因?yàn)槠湔丈浣桥缮?θ滿足不了布拉格公式而發(fā)生衍射；其峰強(qiáng)弱依賴于單晶樣品在譜儀樣品架上的作固定安裝的立體角參數(shù)。 若將一束單色X射線照射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射。要使各晶面族都發(fā)生衍射，常用的方法就是轉(zhuǎn)動(dòng)晶體。轉(zhuǎn)動(dòng)中各晶面族時(shí)刻改變著與入射線的交角，會(huì)在某個(gè)時(shí)候符合布拉格方程而產(chǎn)生衍射。目前常用的收集單晶體衍射數(shù)據(jù)的方法是：一為回?cái)[法，二為四圓衍射儀法。安徽奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD公司有哪些