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硬件可靠性測試標(biāo)準

來源: 發(fā)布時間:2022-02-27

HALT(Highly Accelerated Life Test,高加速壽命試驗)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening,高加速應(yīng)力篩選)、這是一種能夠提高產(chǎn)品可靠性的測試手段,HALT/HASS 是由美國軍方所延伸出的設(shè)計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法,現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標(biāo)準產(chǎn)品驗證方法。它將原需花費6 個月甚至1 年的新產(chǎn)品可靠性試驗縮短至一周,且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致,故HALT/HASS 的試驗方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗證。在美國之外,許多國際的3C 電子產(chǎn)品大廠也都使用相同或類似的手法來提升產(chǎn)品質(zhì)量。 HALT 是一種通過讓被測物承受不同的應(yīng)力、進而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計上的缺限,以及潛在弱點的實驗方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動,高低溫,溫度循環(huán),電力開關(guān)循環(huán),電壓邊際及頻率邊際測試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段,能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)??煽啃詼y試具體怎么選擇呢?硬件可靠性測試標(biāo)準

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上海天梯檢測技術(shù)有限公司機械環(huán)境包含:振動試驗(隨機振動,正掃頻振動,定頻振動),模擬汽輸車運試驗,碰撞試驗,機械沖擊試驗(半正弦波,方波,后峰鋸齒波),跌落試驗(1m和1.5m),G值跌落,滾筒跌落試驗(0.5m和1m),斜面沖擊試驗,堆碼壓力試驗,水平擠壓試驗,溫濕度 振動三綜合試驗,高加速壽命試驗(HALT),高加速應(yīng)力篩選(HASS,HASA),插拔壽命試驗(插拔力,拔出力),鋼球沖擊試驗,按鍵壽命試驗,點劃壽命試驗,軟壓試驗,搖擺試驗,鉛筆硬度測試,耐磨擦測試,附著力測試,百格測試等;硬件可靠性測試實驗室可靠性是電子設(shè)備的重要質(zhì)量特性之一。

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可靠性測試是什么 為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗。對于不同的產(chǎn)品,為了達到不同的目的,可以選擇不同的可靠性試驗方法。可靠性測試:也稱產(chǎn)品的可靠性評估,產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計、應(yīng)用過程中,不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機械環(huán)境的影響,而仍需要能夠正常工作,這就需要以試驗設(shè)備對其進行驗證,這個驗證基本分為研發(fā)試驗、試產(chǎn)試驗、量產(chǎn)抽檢三個部分。可靠性試驗包括:老化試驗、溫濕度試驗、氣體腐蝕試驗、機械振動試驗、機械沖擊試驗、碰撞試驗和跌落試驗、防塵防水試驗以及包裝壓力試驗等多項環(huán)境可靠性試驗 材料可靠性測試的**價值是在產(chǎn)品設(shè)計時發(fā)現(xiàn)潛在缺點、在生產(chǎn)階段驗證產(chǎn)品質(zhì)量、減少客戶退貨的可能性、提高產(chǎn)品質(zhì)量、提升品牌價值,同時維護品牌聲譽。

上海天梯檢測——輸入電壓跌落及輸出動態(tài)負載 一次模塊在實際使用過程中,當(dāng)輸入電壓跌落時,電源模塊突加負載的極限情況是可能發(fā)生的,此時功率器件、磁性元件工作在較大瞬態(tài)電流狀態(tài),試驗可以檢驗控制時序、限流保護等電路及軟件設(shè)計的合理性。 A、將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點+5V(持續(xù)時間為5s)、過壓點-5V(持續(xù)時間為5s)之間跳變,輸出調(diào)整在較大負載(較大額定容量,持續(xù)時間為500ms)、空載(持續(xù)時間為500ms)之間跳變,運行1小時; B、將輸入電壓調(diào)整為欠壓點+5V(持續(xù)時間為5s)、過壓點-5V(持續(xù)時間為5s)之間跳變,輸出調(diào)整在較大負載(較大額定容量,持續(xù)時間為1s)、空載(持續(xù)時間為500ms)之間跳變,運行1小時??煽啃詼y試與質(zhì)量檢測有何區(qū)別?

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高壓空載,低壓限流態(tài)運行試驗 測試說明: 高壓空載運行是測試模塊的損耗情況,尤其是帶軟開關(guān)技術(shù)的模塊,在空載情況下,軟開關(guān)變?yōu)橛查_關(guān),模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿載運行是測試模塊在較大輸入電流時,模塊的損耗情況,通常狀態(tài)下,模塊在低壓輸入、滿載輸出時,效率較低,此時模塊的發(fā)熱較為嚴重。 試驗是模仿電子產(chǎn)品工作狀態(tài)進行的,即焊點由于自身的電阻,當(dāng)有電流通過時會發(fā)熱,而不工作時焊點恢復(fù)到室溫,從高溫到室溫意味著焊點經(jīng)受高低溫的變化,在汽車電子中有些部位電子產(chǎn)品中焊點升溫會達剄800C以上。如果再加上環(huán)境溫度交替變化那么焊點升溫還會更高。故該試驗方法實用性強,但試驗周期長費用高,試驗前應(yīng)做好充分準備。環(huán)境可靠性測試包含了哪些呢?上海環(huán)境可靠性測試報告

可靠性測試有作用嗎?硬件可靠性測試標(biāo)準

可靠性檢測測試項目主要包括: 1.氣候環(huán)境試驗:高低溫試驗、高低溫交變、快速溫度變化、低氣壓、IP防護等級試驗; 2.鹽霧試驗:中性鹽霧、酸性鹽霧、銅加速鹽霧、循環(huán)鹽霧。 3.機械類試驗:振動試驗(隨機振動、掃頻振動)、機械沖擊試驗、跌落試驗。 4.力學(xué)性能試驗:拉伸性能、彎曲性能、壓縮性能、擺錘沖擊。 5.熱性能試驗:熱變形溫度、維卡軟化點,熔融。 6.電學(xué)性能:介電強度、絕緣電阻、接觸電阻、接地電阻、電壓降。 7.材料類試驗:氙燈老化試驗、熒光紫外燈老化試驗、材料邵氏硬度、鉛筆硬度、耐化學(xué)介質(zhì)、色差、光澤度、膠帶初粘力、膠帶持粘力。 可靠性試驗設(shè)備: 恒溫恒濕測試箱 鹽霧試驗設(shè)備 跌落試驗設(shè)備 老化測試設(shè)備 低溫試驗設(shè)備 機械沖擊設(shè)備硬件可靠性測試標(biāo)準

上海天梯檢測技術(shù)有限公司成立于2013年,總部設(shè)在上海交大金橋國家科技園,是中國合格評定國家認可委員會(CNAS)認可實驗室(No. CNAS L7352),計量認證(CMA)認可實驗室(170921341417),上海交大金橋科技園檢測公共服務(wù)平臺,上海市研發(fā)公共服務(wù)平臺服務(wù)企業(yè),上海市浦東新區(qū)科技服務(wù)機構(gòu)發(fā)展促進會會員單位,上海市****。我們有前列的測試設(shè)備,專業(yè)的工程師及**團隊。公司成立以來著重于產(chǎn)品的環(huán)境可靠性實驗,材料性能實驗,在汽車,造船,醫(yī)療,運輸?shù)刃袠I(yè)為企業(yè)提供了專業(yè)的測試技術(shù)服務(wù),堅持‘準確,及時,真實,有效,提升’的質(zhì)量方針,憑過硬的檢測技術(shù)和工作質(zhì)量,向廣大客戶提供準確,高效的檢測服務(wù),我們的檢測報告具有國際公信力,得到了23個經(jīng)濟體的37個國家和地區(qū)的客戶認可。