可靠性試驗(yàn)，是指通過(guò)試驗(yàn)測(cè)定和驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性。為了測(cè)定、驗(yàn)證或提高產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱(chēng)為可靠性試驗(yàn)，它是產(chǎn)品可靠性工作的一個(gè)重要環(huán)節(jié) 在研制階段使產(chǎn)品達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)。為了使產(chǎn)品能達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)，在研制階段需要對(duì)樣品進(jìn)行可靠性試驗(yàn)，以便找出產(chǎn)品在原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問(wèn)題，而加以改進(jìn)，經(jīng)過(guò)反復(fù)試驗(yàn)與改進(jìn)，就能不斷地提高產(chǎn)品的各項(xiàng)可靠性指標(biāo)，達(dá)到預(yù)定的要求。 可靠性測(cè)試項(xiàng)目一般包含： 氣候環(huán)境測(cè)試：高溫測(cè)試、低溫測(cè)試、溫濕度循環(huán)/恒定濕熱測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、快速溫變測(cè)試、低氣壓測(cè)試、光老化測(cè)試、腐蝕測(cè)試等。機(jī)械環(huán)境測(cè)試：振動(dòng)測(cè)試、沖擊測(cè)試、碰撞測(cè)試、跌落測(cè)試。在工程勘探設(shè)計(jì)環(huán)境保護(hù)方面也能找到可靠性的測(cè)試公司的身影。電子儀器可靠性測(cè)試公司

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 11、傾跌與翻倒： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982。 12、砂塵試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn) GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994 只做：方法La2:恒定氣壓。 13、鹽霧試驗(yàn)： 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996； 人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006； 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981。 14、溫度沖擊試驗(yàn)： 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。上海硬件可靠性測(cè)試項(xiàng)目環(huán)境可靠性檢測(cè)都包含哪些內(nèi)容?

可靠性測(cè)試是一種非功能測(cè)試，它可以發(fā)現(xiàn)那些隱藏在軟件內(nèi)，會(huì)導(dǎo)致軟件能力下降的缺陷。在修復(fù)這些缺陷之后，我們可以讓目標(biāo)軟件在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行的狀態(tài)下，依然可以處理等量的數(shù)據(jù)。因此為了保障公司內(nèi)各個(gè)項(xiàng)目的可靠性水平，所以便引入了可靠性測(cè)試。我們會(huì)對(duì)第一階段的可靠性測(cè)試定義了這樣一個(gè)目標(biāo)：在特定的環(huán)境和較長(zhǎng)的時(shí)間范圍內(nèi)測(cè)試一下"X"的維持能力。我們要重點(diǎn)關(guān)注的是"X是否足夠穩(wěn)定（業(yè)務(wù)處理能力的波動(dòng)值）”、“X是否存在內(nèi)存泄露問(wèn)題"、"X的索引效果是否明顯"等。

如何保證設(shè)備在以年為單位的典型使用壽命內(nèi)可靠，而不會(huì)導(dǎo)致無(wú)法接受的生產(chǎn)延遲？為了解決這個(gè)問(wèn)題，工程師們提出了可靠性測(cè)試的概念?？煽啃詼y(cè)試通過(guò)以更高的溫度、電壓和其他環(huán)境因素的形式向被測(cè)設(shè)備(DUT)施加更大的應(yīng)力，從而在功能上加速老化過(guò)程。在這個(gè)“降額”過(guò)程的不同階段對(duì)芯片運(yùn)行的統(tǒng)計(jì)分析揭示了設(shè)計(jì)中的潛在弱點(diǎn)。通過(guò)在DUT進(jìn)入批量生產(chǎn)之前進(jìn)行各種可靠性測(cè)試，制造商可以降低風(fēng)險(xiǎn)。它們降低了發(fā)布導(dǎo)致大量現(xiàn)場(chǎng)維修甚至召回的有缺陷產(chǎn)品的可能性。較終，可靠性測(cè)試增加了公司從新設(shè)計(jì)中獲利的機(jī)會(huì)，并有助于促進(jìn)行業(yè)的更多創(chuàng)新。通過(guò)對(duì)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試就可以了解產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定程度了。

樣品在制作運(yùn)用的過(guò)程中會(huì)不斷接受外界氣候、環(huán)境、溫度、機(jī)械力等環(huán)境因素的影響。如果要保證產(chǎn)品在設(shè)計(jì)環(huán)境當(dāng)中能夠保證正常運(yùn)行，那么就需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測(cè)試，這個(gè)測(cè)試主要分為三部分，分別是研發(fā)測(cè)試，市場(chǎng)測(cè)試和量產(chǎn)抽檢三個(gè)部分。可靠性測(cè)試的項(xiàng)目有很多常用的檢驗(yàn)項(xiàng)目，有老化測(cè)試、濕度溫度測(cè)試、腐蝕氣體測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、碰撞測(cè)試和電路測(cè)試，以及防塵防水測(cè)試和包裝壓力測(cè)試等多個(gè)可靠測(cè)試的測(cè)試項(xiàng)目?？煽啃詮?qiáng)化測(cè)試對(duì)于測(cè)試模擬環(huán)境的真實(shí)性是沒(méi)有什么要求的。上海第三方可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

可靠性測(cè)試的項(xiàng)目有很多常用的檢驗(yàn)項(xiàng)目。電子儀器可靠性測(cè)試公司

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別： 試驗(yàn)終止判據(jù)： 環(huán)境試驗(yàn)不允許出現(xiàn)故障，產(chǎn)品一量出現(xiàn)故障，就認(rèn)為通不過(guò)試驗(yàn)，試驗(yàn)即告停止并進(jìn)行故障分析，采取糾正措施，改進(jìn)設(shè)計(jì)。這是環(huán)境試驗(yàn)的TAAF過(guò)程。而可靠性試驗(yàn)是以一定的統(tǒng)計(jì)概率表示結(jié)果的試驗(yàn)，根據(jù)合同要求的可靠性定量指標(biāo)和所選統(tǒng)計(jì)方案確定允許出現(xiàn)的故障數(shù)。試驗(yàn)要一直進(jìn)行到達(dá)規(guī)定的總臺(tái)時(shí)數(shù)才能停止。整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)建立故障報(bào)告，分析和糾正措施系統(tǒng)(FRACAS)電子儀器可靠性測(cè)試公司

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