科技之光,研發(fā)未來(lái)-特殊染色技術(shù)服務(wù)檢測(cè)中心
常規(guī)HE染色技術(shù)服務(wù)檢測(cè)中心:專業(yè)、高效-生物醫(yī)學(xué)
科研的基石與質(zhì)量的保障-動(dòng)物模型復(fù)制實(shí)驗(yàn)服務(wù)檢測(cè)中心
科技之光照亮生命奧秘-細(xì)胞熒光顯微鏡檢測(cè)服務(wù)檢測(cè)中心
揭秘微觀世界的窗口-細(xì)胞電鏡檢測(cè)服務(wù)檢測(cè)中心
科研的基石與創(chuàng)新的搖籃-細(xì)胞分子生物學(xué)實(shí)驗(yàn)服務(wù)檢測(cè)中心
科研的堅(jiān)實(shí)后盾-大小動(dòng)物學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)服務(wù)檢測(cè)中心
推動(dòng)生命科學(xué)進(jìn)步的基石-細(xì)胞生物學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)服務(wù)
科技前沿的守護(hù)者-細(xì)胞藥效學(xué)實(shí)驗(yàn)服務(wù)檢測(cè)中心
科研前沿的探索者-細(xì)胞遷移與侵襲實(shí)驗(yàn)服務(wù)檢測(cè)中心
通常,參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件(DUT),然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為:從測(cè)試儀通過(guò)電纜束至測(cè)試頭,再通過(guò)測(cè)試頭至探針卡,然后通過(guò)探針至芯片上的焊點(diǎn),到達(dá)被測(cè)器件,并然后沿原路徑返回測(cè)試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意,問(wèn)題可能是由測(cè)量?jī)x器或軟件所致,也可能是其它原因造成。在檢測(cè)虛焊和斷路的時(shí)候,探針卡用戶經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個(gè)標(biāo)稱值。信號(hào)路徑電阻是從焊點(diǎn)到測(cè)試儀的總電阻,即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是,接觸電阻是信號(hào)路徑電阻的重要組成部分。探針的頂端壓力主要由探針臺(tái)的驅(qū)動(dòng)器件控制,額外的Z運(yùn)動(dòng)(垂直行程)會(huì)令其直線上升。無(wú)錫大規(guī)模探針銷售公司
鎢探針是晶圓測(cè)試過(guò)程中的耗材。替換晶圓探測(cè)鎢針勢(shì)必會(huì)在增加生產(chǎn)成本。晶圓探針卡是一種用于晶圓測(cè)試的工具,通常由一測(cè)試電路板和位于電路板上的針尖彎折成95-105度的錐形鎢針構(gòu)成。測(cè)試時(shí),將鎢探針的針頭直接接觸被測(cè)晶圓的襯墊,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓的電性能測(cè)試。定制針尖:我們綜合運(yùn)用電化學(xué)、機(jī)械加工、電鍍工藝,精深加工,確保探針一致性。可根據(jù)要求定制尖部形狀,有鋒利極銳尖、平臺(tái)和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級(jí)到納米級(jí),針尖曲率半徑Min可控為50納米,包裝**0%逐根檢測(cè)。定制涂層:可按客戶要求整體或局部鍍鎳錫金等、壓鑄銅套和不銹鋼套等定制服務(wù)。蘇州大規(guī)模探針探針具有的功能:用于測(cè)量半導(dǎo)體材料、功能材料。
鎢錸探針:我們生產(chǎn)的錸鎢探針、鎢探針和Paliney7合金探針,主要應(yīng)用于IC、LED、LCD等芯片檢測(cè)以及晶圓檢測(cè)等行業(yè)。適用于各類Pad表面。采用品質(zhì)穩(wěn)定的原材料,可按照不同客戶的多樣要求,提供國(guó)產(chǎn)或日本鎢材料,有純鎢(99.95-99.98%)、錸鎢等原料。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點(diǎn)。合金探針檢測(cè)時(shí)無(wú)傷原器件,已批量應(yīng)用于LED芯片檢測(cè)領(lǐng)域。我們的探針在導(dǎo)電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機(jī)械穩(wěn)定性可滿足客戶定制要求。
鎢針可分為純鎢針、稀土鎢針、摻雜鎢針。鎢針主要用于制作強(qiáng)度高氣體放電燈電弧管用電極。由于鎢的特性,使得它比較適合用于tiG焊接以及其它類似這種工作的電極材料。在金屬鎢中添加稀土氧化物來(lái)刺激它的電子逸出功,使得鎢電極的焊接性能得以改善:電極的起弧性能更好,弧柱的穩(wěn)定性更高,電極燒損率更小??筛鶕?jù)要求定制尖部形狀,有鋒利極銳尖、平臺(tái)和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級(jí)到納米級(jí),針尖曲率半徑Min可控為50納米,包裝前逐根檢測(cè)。我們的探針在導(dǎo)電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機(jī)械穩(wěn)定性可滿足客戶定制要求。
掃描隧道顯微鏡是一種利用具有原子級(jí)分辨率的新型探測(cè)工具,已在物理、化學(xué)、生物學(xué)、材料科學(xué)以及微電子科學(xué)等領(lǐng)域得到了應(yīng)用。微結(jié)構(gòu)氣體探測(cè)器是一種氣體粒子探測(cè)器,已在X射線、γ射線以及中子成像、天體物理、固體物理、生物醫(yī)學(xué)以及核醫(yī)學(xué)等比較多領(lǐng)域得到了的應(yīng)用。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點(diǎn)。合金探針檢測(cè)時(shí)無(wú)傷原器件,已批量應(yīng)用于LED芯片檢測(cè)領(lǐng)域。其導(dǎo)電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機(jī)械穩(wěn)定性可滿足客戶定制要求。探針尖磨損和污染也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。無(wú)錫口碑好的探針生產(chǎn)廠家
在電子測(cè)試中,探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類型。無(wú)錫大規(guī)模探針銷售公司
觸點(diǎn)壓力的定義為探針頂端(測(cè)量單位為密耳或微米)施加到接觸區(qū)域的壓力(測(cè)量單位為克)。觸點(diǎn)壓力過(guò)高會(huì)損傷焊點(diǎn)。觸點(diǎn)壓力過(guò)低可能無(wú)法通過(guò)氧化層,因此產(chǎn)生不可靠的測(cè)試結(jié)果。頂端壓力主要由探針臺(tái)的驅(qū)動(dòng)器件控制,額外的Z運(yùn)動(dòng)(垂直行程)會(huì)令其直線上升。此外,探針材質(zhì)、探針直徑、光束長(zhǎng)度、和尖錐長(zhǎng)度都在決定頂端壓力時(shí)起重要的作用。從本質(zhì)上來(lái)說(shuō),隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點(diǎn)氧化物和污染物的表層,接觸電阻減小而電流流動(dòng)迅速開始。隨著探針接觸到焊點(diǎn)金屬的亞表層,這些效應(yīng)將增加。盡管隨著探針壓力的增強(qiáng),接觸電阻逐漸降低,終它會(huì)達(dá)到兩金屬的標(biāo)稱接觸電阻值。無(wú)錫大規(guī)模探針銷售公司
江蘇秉聚金屬制品有限公司主要經(jīng)營(yíng)范圍是電子元器件,擁有一支專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)和良好的市場(chǎng)口碑。公司業(yè)務(wù)涵蓋放電鎢針,微創(chuàng)鎢針,探針等,價(jià)格合理,品質(zhì)有保證。公司注重以質(zhì)量為中心,以服務(wù)為理念,秉持誠(chéng)信為本的理念,打造電子元器件良好品牌。秉聚金屬立足于全國(guó)市場(chǎng),依托強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力,融合前沿的技術(shù)理念,飛快響應(yīng)客戶的變化需求。