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接觸電阻即探針尖與焊點(diǎn)之間接觸時(shí)的層間電阻。通常不能給出具體的指標(biāo),因?yàn)閷?shí)際的接觸電阻比較難測(cè)量。一般,信號(hào)路徑電阻被用來替代接觸電阻,而且它在眾多情況下更加相關(guān)。在檢測(cè)虛焊和斷路的時(shí)候,探針卡用戶經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個(gè)標(biāo)稱值。信號(hào)路徑電阻是從焊點(diǎn)到測(cè)試儀的總電阻,即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是,接觸電阻是信號(hào)路徑電阻的重要組成部分。在實(shí)際使用中,探針的接觸電阻在比較大程度上取決于焊點(diǎn)的材料、清洗的次數(shù)、以及探針的狀況,而且它同標(biāo)稱值相差較多。探針的頂端壓力主要由探針臺(tái)的驅(qū)動(dòng)器件控制,額外的Z運(yùn)動(dòng)(垂直行程)會(huì)令其直線上升。淮安微型探針定做價(jià)格
錸鎢針(97%Tungsten,3%Rhenium),直徑是0.05-0.1mm不等,針具有高硬度、高彈性模量、檢測(cè)時(shí)無傷原器件等特點(diǎn),其硬度/抗勞性佳,穩(wěn)定度佳,適合長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試。我司可按照不同客戶的多樣要求,提供國(guó)產(chǎn)或日本鎢材料,T長(zhǎng)均勻,針尖采用研磨處理,中心居正,針尖長(zhǎng)度細(xì)長(zhǎng),飽滿,壽命長(zhǎng)。這種探針的針尖尖部經(jīng)過特殊工藝加工而成,針錐精度高,具有強(qiáng)度高和彈性模量,產(chǎn)品更耐磨、更耐腐蝕,表面光滑無傷,光潔度可達(dá)到Ra0.25以下,幾乎為鏡面。探針具有用于測(cè)量半導(dǎo)體材料、功能材料、導(dǎo)電薄膜的電阻率、面電阻、型號(hào)及擊穿電壓等多種功能。連云港探針供應(yīng)商家半導(dǎo)體探針:直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。
在電子測(cè)試中對(duì)探針的選擇有著較高的要求,重點(diǎn)會(huì)考慮到探針能承載多大的電流、可適應(yīng)的間距值、頭型與待測(cè)對(duì)象的適配度等等。在電子測(cè)試過程中若是探針使用不恰當(dāng)或者性能達(dá)不到測(cè)試的需求,就比較容易造成損壞,影響測(cè)試的穩(wěn)定性,因此探針的性能比較重要。在電子測(cè)試中,探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類型。這兩種探針都是用于手機(jī)電池、屏幕、攝像頭等連接器模組測(cè)試的。彈片微針模組是一體成型式的彈片結(jié)構(gòu),體型輕薄,鍍金后經(jīng)過加硬處理,可承載的電流高能達(dá)到50A,電流傳輸時(shí)流通于同一材料體內(nèi),具有更好地連接功能;在小pitch領(lǐng)域,彈片微針模組的適應(yīng)性高,可取值范圍小可達(dá)到0.15mm,性能比較穩(wěn)定。半導(dǎo)體探針:直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。
鎢探針是晶圓測(cè)試過程中的耗材。替換晶圓探測(cè)鎢針勢(shì)必會(huì)在增加生產(chǎn)成本。晶圓探針卡是一種用于晶圓測(cè)試的工具,通常由一測(cè)試電路板和位于電路板上的針尖彎折成95-105度的錐形鎢針構(gòu)成。測(cè)試時(shí),將鎢探針的針頭直接接觸被測(cè)晶圓的襯墊,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓的電性能測(cè)試。定制針尖:我們綜合運(yùn)用電化學(xué)、機(jī)械加工、電鍍工藝,精深加工,確保探針一致性??筛鶕?jù)要求定制尖部形狀,有鋒利極銳尖、平臺(tái)和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級(jí)到納米級(jí),針尖曲率半徑Min可控為50納米,包裝**0%逐根檢測(cè)。定制涂層:可按客戶要求整體或局部鍍鎳錫金等、壓鑄銅套和不銹鋼套等定制服務(wù)。在電子測(cè)試中,探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類型。
探針對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響:通常,參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件(DUT),然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為:從測(cè)試儀通過電纜束至測(cè)試頭,再通過測(cè)試頭至探針卡,然后通過探針至芯片上的焊點(diǎn),到達(dá)被測(cè)器件,并然后沿原路徑返回測(cè)試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意,問題可能是由測(cè)量?jī)x器或軟件所致,也可能是其它原因造成。通常情況下,測(cè)量?jī)x器引進(jìn)一些噪聲或測(cè)量誤差。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件,其中之一可能是,它會(huì)受探針參數(shù)的影響,如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點(diǎn)壓力、以及探針臺(tái)的平整度。此外,探針尖磨損和污染也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。探針具有導(dǎo)電薄膜的電阻率、面電阻、型號(hào)及擊穿電壓等多種功能。常州口碑好的探針生產(chǎn)廠家
我們的探針在導(dǎo)電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機(jī)械穩(wěn)定性可滿足客戶定制要求?;窗参⑿吞结樁ㄗ鰞r(jià)格
通常,參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件(DUT),然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為:從測(cè)試儀通過電纜束至測(cè)試頭,再通過測(cè)試頭至探針卡,然后通過探針至芯片上的焊點(diǎn),到達(dá)被測(cè)器件,并然后沿原路徑返回測(cè)試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意,問題可能是由測(cè)量?jī)x器或軟件所致,也可能是其它原因造成。在檢測(cè)虛焊和斷路的時(shí)候,探針卡用戶經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個(gè)標(biāo)稱值。信號(hào)路徑電阻是從焊點(diǎn)到測(cè)試儀的總電阻,即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是,接觸電阻是信號(hào)路徑電阻的重要組成部分?;窗参⑿吞结樁ㄗ鰞r(jià)格
江蘇秉聚金屬制品有限公司致力于電子元器件,是一家貿(mào)易型的公司。公司自成立以來,以質(zhì)量為發(fā)展,讓匠心彌散在每個(gè)細(xì)節(jié),公司旗下放電鎢針,微創(chuàng)鎢針,探針深受客戶的喜愛。公司將不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力,努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識(shí),遵守行業(yè)規(guī)范,植根于電子元器件行業(yè)的發(fā)展。在社會(huì)各界的鼎力支持下,持續(xù)創(chuàng)新,不斷鑄造***服務(wù)體驗(yàn),為客戶成功提供堅(jiān)實(shí)有力的支持。