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河北光學(xué)鍍膜設(shè)備原理

來源: 發(fā)布時間:2021-10-11

【光學(xué)鍍膜出現(xiàn)劃痕(膜傷)如何處理】劃痕是指膜面內(nèi)外有道子,膜內(nèi)的稱劃痕,膜外的稱膜傷。這也是鍍膜品質(zhì)改善中的一個頑癥,雖然很清楚產(chǎn)生的原因和改善方法但難以**。 產(chǎn)生原因: 膜內(nèi)的劃痕: 1.前工程外觀不良殘留,有些劃痕在鍍膜前不容易發(fā)現(xiàn),前工程檢驗和鍍前上傘檢查都不容易發(fā)現(xiàn),而在鍍膜后會將劃痕顯現(xiàn)。 2.各操作過程中的作業(yè)過失造成鏡片劃痕。 3.鏡片擺放太密,搬運過程中造成互相磕碰形成劃痕。鏡片的擺放器具、包裝材料造成鏡片表面擦傷。超聲波清洗造成的傷痕。 膜外傷痕(膜傷) 1.鏡片的擺放器具、包裝材料造成的膜傷。 2.鍍后超聲波清洗造成的膜傷。 3.各作業(yè)過程作業(yè)過失造成的膜傷。 改善思路:檢討個作業(yè)過程和相關(guān)器具材料,消除劃痕和膜傷。 (一)強化作業(yè)員作業(yè)規(guī)范。 (二)訂立作業(yè)過失清單,監(jiān)督作業(yè)員避免作業(yè)過失。 (三)改善鏡片擺放間隔。 (四)改善鏡片搬運方法。 (五)改善擺放器具、包裝材料。 (六)改善超聲波清洗工藝參數(shù)。 (七)加強前工程檢驗和鍍前檢查 光學(xué)鍍膜設(shè)備機組是怎樣的?河北光學(xué)鍍膜設(shè)備原理

【單層反射膜】線射入玻璃基板時,會產(chǎn)生4%左右的反射而造成透過率的損失。但是,通過在玻璃基板上蒸鍍比玻璃的折射率更低的電介質(zhì)膜,可以改變玻璃基板的反射率。 調(diào)節(jié)電介質(zhì)膜的厚度使其光程(折射率n×膜厚d)為λ/4時,可以相互抵消玻璃基板和電介質(zhì)膜,電介質(zhì)膜和空氣的分界面的反射,將反射率降到*低。   但是,由于折射率受到薄膜材料的限制,所以反射率不能完全為零。而且,由于受玻璃基板折射率的限制,所以并不是所有玻璃基板都能得到防反射效果。 遼寧舜宇光學(xué)鍍膜設(shè)備光學(xué)鍍膜設(shè)備常見故障及解決方法。

【光學(xué)炫彩紋理的關(guān)鍵先生——光刻膠】 光刻膠是指通過紫外光、準分子激光、電子束、離子束、X射線等光源的照射或輻射,其溶解度發(fā)生變化的耐蝕刻半流體材料。*早時期光刻膠是應(yīng)用在印刷工業(yè)領(lǐng)域,到20世紀20年代才被逐漸用在印刷電路板領(lǐng)域,50年代開始用于半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域。20世紀50年代末,伊士曼柯達Eastman Kodak和施普萊 Shipley 公司分別設(shè)計出適合半導(dǎo)體工業(yè)需要的正膠和負膠。 光刻膠是利用曝光區(qū)和非曝光區(qū)的溶解速率差來實現(xiàn)圖像的轉(zhuǎn)移。具體從流程上來解釋,由于光刻膠具有光化學(xué)敏感性,可利用其進行光化學(xué)反應(yīng),將光刻膠涂覆半導(dǎo)體、導(dǎo)體和絕緣體上,經(jīng)曝光、顯影后留下的部分對底層起保護作用,然后采用蝕刻劑進行蝕刻就可將所需要的微細圖形從掩模版轉(zhuǎn)移到待加工的襯底上。因此光刻膠是微細加工技術(shù)中的關(guān)鍵性化工材料。 光刻膠主要由五種基本成分組成,包括聚合劑、溶劑、感光劑、光敏劑和添加劑。

【光學(xué)鍍膜的目的】: &反射率的提高或透射率的降低 &反射率的降低或透射率的提高 &分光作用:中性分光、變se分光、偏極光分光 &光譜帶通、帶止及長波通或短波通之濾光作用 &相位改變 &液晶顯示功能之影顯 &se光顯示、se光反射、偽chao及有價證券之防止 &光波的引導(dǎo)、光開關(guān)及集體光路 a. 在膜層中,波的干涉結(jié)果,如R%, T%都是與膜質(zhì)本身和兩邊界邊的折射率率有關(guān)系,相位變化也是如此。 b. 由于干涉作用造成的反射率有時升高,有時反而降低,都要視磨蹭的折射率高于或低于基板折射率而定。若Nf>Ns,則反射率會提高(Ns為基底),若Nf

【光譜分光不良的補救處理】1.對于第(yi)種情況,比較好處理,只要確認前面鍍的沒錯,程序沒有用錯,就可以繼續(xù)原來的程序,要注意的是:如果某一層鍍了一部分繼續(xù)鍍下去時,交接處要減少一些膜厚(根據(jù)膜料、蒸發(fā)速率決定減少多少,一般是0.2-1nm左右),如果該層剩下的膜厚已不足15-20秒蒸鍍時,要考慮降低蒸發(fā)速率或干脆不鍍,通過后續(xù)層調(diào)整膜厚解決。 2.對于第(二)(三)種情況的處理比較復(fù)雜一些 模擬:根據(jù)已經(jīng)實鍍的鏡片(測試比較片)實測分光數(shù)據(jù)輸入計算機膜系設(shè)計程序的優(yōu)化目標值,再根據(jù)已經(jīng)掌握的膜系信息輸入,采用倒推法逐層優(yōu)化,模擬出實際鍍制的膜系數(shù)據(jù)。 測試比較片片是指隨鏡片-起鍍制(在傘片上、與鏡片同折射率),用于測試鍍后分光曲線的平片。優(yōu)化:再鎖定通過模擬得到的膜系數(shù)據(jù),通過后續(xù)層膜厚優(yōu)化找到實現(xiàn)目標的**方案。 試鍍:根據(jù)新優(yōu)化的后續(xù)膜層數(shù)據(jù),試鍍?nèi)舾社R片(1-2片)或測試片,確認補se膜系的可行性補se鍍:對試鍍情況確認后實施補se鍍。補se鍍前,確認基片是否潔凈,防止產(chǎn)生其它不良。 光學(xué)鍍膜設(shè)備相關(guān)資料。河北光學(xué)鍍膜設(shè)備原理

離子光學(xué)鍍膜設(shè)備是什么?河北光學(xué)鍍膜設(shè)備原理

【柵網(wǎng)型離子源的加速過程】柵網(wǎng)組件通過向每個柵網(wǎng)施加特定電壓以從放電室提取離子。首先,屏柵相對于地為正偏壓(束流電壓),因此放電室中的等離子體也相對于地為正偏壓。然后,加速柵相對于地為負偏壓(加速電壓),并沿離子源中心線建立電場,放電室中靠近該電場漂移的正離子被加速。即使不使用減速柵,*外層的電勢*終也近似為零。減速柵的電位通常保持在接地電位加速的離子在通過加速柵之后減速并且以近似束流電壓的離子能量從柵網(wǎng)中射出由于已建立的電場,位于放電室或外層的電子被分離開來。河北光學(xué)鍍膜設(shè)備原理

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